特許
J-GLOBAL ID：200903074069242595
実時間テラヘルツ・トモグラフィー装置および分光イメージング装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
小倉 啓七
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2005015868
公開番号（公開出願番号）：WO2006-085403
出願日： 2005年08月31日
公開日（公表日）： 2006年08月17日
要約：
走査機構が不要なTHzトモグラフィー及びTHz分光イメージングを可能し、また測定時間を実時間測定可能まで高め、動体サンプルの非破壊検査及び成分分析型内部透視イメージングを行う。 テラヘルツ電磁波パルス光とプローブパルス光のそれぞれの光軸を非共軸に配置し、所定の角度で電気光学結晶に入射させて、両ビームを結晶内で交差させ面として重ね、時間軸上のTHzパルス時系列波形情報を、電気光学結晶における時間-空間変換を用いて空間1次元に展開し、2次元イメージングデバイスで検出することによって、時間軸の走査を省略する。また、2次元イメージングデバイスの残りの1軸をサンプルの空間1次元イメージングに利用してサンプル走査を省略するため、サンプルに対してTHzパルスを線集光(ラインビーム)で照射し、その透過光もしくは反射光を電気光学結晶に結像するための光学系を配置する。
請求項（抜粋）：
レーザパルス光を発生するパルス光発生部と、
前記レーザパルス光と光伝導スイッチ(もしくは非線形光学結晶)によって発生させたテラヘルツ電磁波パルス(THzパルス)を測定対象物に照射させるTHzパルス照射用光学系と、
前記測定対象物を透過又は反射したTHzパルスを電気光学結晶に結像させるためのTHzパルス検出用光学系と、
前記THzパルスと同期したプローブパルス光を、前記電気光学結晶に照射するプローブパルス光照射用光学系と、
前記電気光学結晶を通過し、前記THzパルスの誘起複屈折率変化により偏光状態が変化した前記プローブパルス光の特定偏光成分を抽出する検光部とを備えたTHzパルス計測装置であって、
(1)前記電気光学結晶に照射される前記THzパルスと前記プローブパルス光を非共軸配置とし、
(2)前記THzパルス照射用光学系において、円筒レンズ(シリンドリカルレンズ)を用いて、THzパルスを前記測定対象物に線集光(ラインビーム)として照射させ、その透過又は反射したTHzパルスを電気光学結晶に結像させるための光学系の配置とし、
(3)前記検光部の検出器を2次元イメージングデバイスとし、得られた2次元イメージング画像の1軸をTHzパルスの時系列波形の計測用として用い、他方の1軸を線集光(ラインビーム)で照射された測定対象物の1次元空間情報の計測用として用いる、
ことを特徴とする実時間THzパルス計測装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01N21/35 Z
, A61B10/00 E
, A61B10/00 B
2G059AA05
, 2G059BB08
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE05
, 2G059EE12
, 2G059FF01
, 2G059FF04
, 2G059GG01
, 2G059GG08
, 2G059JJ11
, 2G059JJ12
, 2G059JJ13
, 2G059JJ18
, 2G059JJ19
, 2G059JJ20
, 2G059JJ22
, 2G059KK04
, 2G059MM01
, 2G059MM10
, 2G059NN01
