特許
J-GLOBAL ID：200903074084442711
偏光解析装置および偏波モード分散測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
志賀 正武 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-011089
公開番号（公開出願番号）：特開平8-201175
出願日： 1995年01月26日
公開日（公表日）： 1996年08月09日
要約：
【要約】【目的】 従来の装置に比べて簡単な構成により、被測定光の偏光状態を高速で測定する。【構成】 ビームスプリッタ1〜4等により、解析対象たるレーザ光を4分岐させ、そのうち3個の分岐光を偏光子5,8,10を通過させ、レーザ光および各偏光子の出射光の各パワー値を各々検出器6,7,9,11により検出する。そして、CPU16は、各検出器によって検出された各パワー値と各偏光子の各々の偏波面の角度とに基づいて解析対象たる光の偏光状態を演算する。
請求項（抜粋）：
解析対象たる光を4分岐させる分岐手段と、前記分岐手段より得られた各分岐光から各々偏波面が相互に所定角度ずつ回転した偏波を生成する偏波生成手段と、前記偏波生成手段から得られる各偏波の各パワー値を各々検出する検出手段と、前記各パワー値と前記偏波生成手段から得られる各偏波の偏波面間の回転角度とに基づいて前記解析対象たる光の偏光状態を演算する演算手段とを具備することを特徴とする偏光解析装置。
引用特許：
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