特許
J-GLOBAL ID:200903074199873953
マイクロアレイ装置
発明者:
,
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
岩橋 文雄
, 内藤 浩樹
, 永野 大介
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-237724
公開番号(公開出願番号):特開2009-068995
出願日: 2007年09月13日
公開日(公表日): 2009年04月02日
要約:
【課題】基準マークやパターン領域を設置することなくスポット領域の位置ズレを修正しスポット単位の画素数を増加させ情報量を向上できるマイクロアレイ装置を提供する。【解決手段】マイクロアレイ基板11を設置して移動可能なステージ12と、ステージ12の移動方向と移動量を制御するステージ制御部13と、マイクロアレイ基板11を撮像して受光素子の各画素にて受光した光の輝度をデジタルで表したデジタル画像データを出力する撮像部14と、デジタル画像データからマイクロアレイ基板11の長辺及び短辺のエッジ情報を抽出するエッジ抽出部15と、エッジ情報とマイクロアレイ基板11の角と基準点との相対位置情報からマイクロアレイ基板11の位置ズレを算出する位置ズレ算出部16とを含み、ステージ制御部13は、位置ズレ算出部16が算出した位置ズレを修正するようにステージ12を制御する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
基板上にサンプル検体を定着した複数のスポットを有するマイクロアレイ基板を測定するマイクロアレイ装置において、
前記マイクロアレイ基板を設置して移動可能なステージと、
前記ステージの移動方向と移動量を制御するステージ制御部と、
前記マイクロアレイ基板を撮像して受光素子の各画素にて受光した光の輝度をデジタルで表したデジタル画像データを出力する撮像部と、
前記デジタル画像データから前記マイクロアレイ基板の長辺及び短辺のエッジ情報を抽出するエッジ抽出部と、
前記マイクロアレイ基板の角と前記マイクロアレイ基板の基準点との相対位置情報を記憶したマイクロアレイ位置情報記憶部と、
前記エッジ情報と前記マイクロアレイ基板の角と前記マイクロアレイ基板の基準点との相対位置情報から前記マイクロアレイ基板の位置ズレを算出する位置ズレ算出部とを含み、
前記ステージ制御部は、前記位置ズレ算出部が算出した位置ズレを修正するように前記ステージを制御する、
ことを特徴とするマイクロアレイ装置。
IPC (5件):
G01N 21/17
, G01N 33/53
, G01N 33/483
, G01N 37/00
, C12M 1/00
FI (5件):
G01N21/17 A
, G01N33/53 M
, G01N33/483 C
, G01N37/00 102
, C12M1/00 A
Fターム (30件):
2G043BA16
, 2G043DA05
, 2G043DA06
, 2G043GA07
, 2G043GB01
, 2G043GB19
, 2G043LA02
, 2G043LA03
, 2G043MA16
, 2G043NA01
, 2G045DA12
, 2G045DA13
, 2G045DA14
, 2G045FA11
, 2G059AA05
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059DD13
, 2G059EE07
, 2G059FF11
, 2G059KK04
, 2G059MM01
, 2G059MM03
, 2G059MM05
, 2G059MM09
, 2G059MM10
, 4B029AA07
, 4B029BB20
, 4B029CC03
, 4B029FA12
引用特許:
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