ディスプレイ画面検査装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：石原勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-133915
公開番号（公開出願番号）：特開平10-325780
出願日： 1997年05月23日
公開日（公表日）： 1998年12月08日
要約：

【要約】【課題】ディスプレイ画面の欠陥とその位置の特定とを迅速に行い、検査対象の変更にも容易に対応できるディスプレイ画面検査装置を提供する。【解決手段】液晶パネル3の画面の全面を点灯させて目視により欠陥fの検出を行い、マウス7により検出された欠陥fを囲む位置にポインタPを移動させて欠陥存在領域を指定する。指定された欠陥存在領域の位置情報はコンピュータ8に入力されるので、位置特定台10上に移載した液晶パネル3の欠陥存在領域のみを点灯させ、この上方にXYロボット14によりカメラ6を移動させて撮像する。撮像画像は画像処理装置17によって処理されて欠陥Fの位置が計測されるので、コンピュータ8は欠陥存在領域の位置情報とその中の欠陥Fの位置とから液晶パネル3の欠陥位置を特定する。

請求項（抜粋）：

X-Y平面にマトリックス構成により画素光点を配列したディスプレイ画面の欠陥を検査するディスプレイ画面検査装置において、所定位置に配置された前記ディスプレイの欠陥を目視により検出することができるようにディスプレイ画面全面の画素光点を点灯させる全面点灯手段と、点灯されたディスプレイ画面上で検出された欠陥を含む所定範囲のX-Y領域を欠陥存在領域として指定する欠陥存在領域指定手段と、この欠陥存在領域指定手段により指定された欠陥存在領域の範囲の画素光点を点灯させる指定領域点灯手段と、この指定領域点灯手段により点灯した欠陥存在領域を撮像できる位置にカメラを移動させるカメラ移動手段と、前記カメラによって撮像された欠陥存在領域の画像中から欠陥位置を特定する画像処理手段と、この画像処理手段による欠陥存在領域中の欠陥位置と前記欠陥存在領域指定手段により指定された欠陥存在領域の位置とからディスプレイ画面上の欠陥位置を演算すると共に装置動作を制御する演算制御手段とを具備してなることを特徴とするディスプレイ画面検査装置。

IPC (3件)：

G01M 11/00 , G01N 21/88 , H01J 9/42

FI (3件)：

G01M 11/00 T , G01N 21/88 Z , H01J 9/42 A

引用特許：

審査官引用 (2件)

基板観察装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-132577 出願人：オリンパス光学工業株式会社
液晶パネル欠陥検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-284880 出願人：シャープ株式会社

前のページに戻る