特許
J-GLOBAL ID：200903074717819313
浮遊粒子群の濃度及び粒度の測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
室田 力雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-271635
公開番号（公開出願番号）：特開平10-090158
出願日： 1996年09月19日
公開日（公表日）： 1998年04月10日
要約：
【要約】【課題】 被測定粒子群のある断面における濃度と粒度の分布を簡単な設備で容易に測定できる浮遊粒子の濃度及び粒度の測定装置の提供を課題とする。【解決手段】 照射されたレーザー光束を被測定浮遊粒子群Gに投光し、被測定浮遊粒子群Gからの散乱光を前方においた集光レンズ30で集光すると共に集光面に配置した光ディテクタ40で検出し、検出された散乱光の強度パターンから前記被測定浮遊粒子群Gの濃度と粒度を測定する装置であって、レーザー光照射装置10と被測定浮遊粒子群Gとの間に、円筒面レンズ21、22の組み合わせからなり、レーザー光照射装置10からのレーザー光束を平行光からなるシート状レーザー光束Lに調整して出力するレーザー光束シート状化手段20を配置した。
請求項（抜粋）：
照射されたレーザー光束を被測定浮遊粒子群に投光し、被測定浮遊粒子群からの散乱光を前方においた集光レンズで集光すると共に集光面に配置した光ディテクタで検出し、検出された散乱光の強度パターンから前記被測定浮遊粒子群の濃度と粒度を測定する装置であって、レーザー光照射装置と被測定浮遊粒子群との間に、円筒面レンズの組み合わせからなり、レーザー光照射装置からのレーザー光束を平行光からなるシート状レーザー光束に調整して出力するレーザー光束シート状化手段を配置したことを特徴とする浮遊粒子群の濃度及び粒度の測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 15/02 A
, G01N 21/49 Z
