特許
J-GLOBAL ID:200903075068162284
基板の観察装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小鍜治 明 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-076687
公開番号(公開出願番号):特開平5-280946
出願日: 1992年03月31日
公開日(公表日): 1993年10月29日
要約:
【要約】【目的】 基板に印刷されたシルク印刷部によるノイズが除去された画像データを得ることができる手段を提供する。【構成】 電子部品20が搭載される基板4を上方から観察するカメラ1と、この基板4に向って少くとも2方向の角度から光を照射する光源2,3と、上記一方の角度から光を照射することにより上記カメラ1に取り込まれた画像データを記憶する第1の画像メモリ11と、上記もう一方の角度から光を照射することにより、上記カメラ1に取り込まれた画像データを記憶する第2の画像メモリ12と、この2つの画像メモリ11,12に記憶された画像データを組み合わせることにより、上記基板4に印刷されたシルク印刷部24の画像データを除いた画像データを演算する画像間演算部13とから基板の観察装置を構成した。
請求項(抜粋):
電子部品が搭載される基板を上方から観察するカメラと、この基板に向って少くとも2方向の角度から光を照射する光源と、上記一方の角度から光を照射することにより上記カメラに取り込まれた画像データを記憶する第1の画像メモリと、上記もう一方の角度から光を照射することにより、上記カメラに取り込まれた画像データを記憶する第2の画像メモリと、この2つの画像メモリに記憶された画像データを組み合わせることにより、上記基板に印刷されたシルク印刷部の画像データを除いた画像データを演算する画像間演算部とから成ることを特徴とする基板の観察装置。
IPC (5件):
G01B 11/24
, G01N 21/88
, G06F 15/62 405
, H04N 7/18
, H05K 3/34
引用特許:
出願人引用 (9件)
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特開平3-033983
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特開平1-254843
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特開平4-098148
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特開昭2-203258
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特開平2-021244
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形状測定方法及び装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-173562
出願人:株式会社東芝
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特開平4-098148
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特開昭2-203258
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特開平2-021244
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審査官引用 (17件)
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特開平3-033983
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形状測定方法及び装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-173562
出願人:株式会社東芝
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特開平4-098148
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特開平1-254843
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特開平4-098148
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特開平2-203258
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特開平2-021244
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特開昭2-203258
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特開平2-021244
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特開平3-033983
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特開平1-254843
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特開平4-098148
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特開昭2-203258
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特開平2-021244
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特開平4-098148
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特開昭2-203258
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特開平2-021244
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