特許
J-GLOBAL ID:200903075202815842
X線撮像装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
河▲崎▼ 眞樹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-391883
公開番号(公開出願番号):特開2002-195961
出願日: 2000年12月25日
公開日(公表日): 2002年07月10日
要約:
【要約】【課題】 X線発生装置を交換することなく、1つのX線発生装置のままで簡単にX線のスペクトルを切り換えることができ、従来の装置に比して差分像を容易に画像化することができ、また、実質的にリアルタイムの差分像を得ることのできるX線撮像装置を提供する。【解決手段】 集束された電子線の照射によりX線を発生するターゲットとして、異なる元素を含む複数のターゲット材料を互いに接近させて配置した構造のものを用い、その各ターゲット材料に対して電子線を選択的に照射するべく当該電子線を偏向させる偏向手段を設けることで、電子線の偏向だけで異なるスペクトルのX線の発生を可能とし、X線発生装置の取り換えを不要とすると同時に、X線の切り換えのための時間を極めて短くすることを可能とする。
請求項(抜粋):
集束させた電子線をターゲットに照射してX線を発生させるX線発生手段を備えたX線撮像装置において、上記ターゲットは、異なる元素を含む複数の材料を互いに接近させて並べた構造を有するとともに、そのターゲットの各材料に対して選択的に電子線が照射されるように当該電子線を偏向させる偏向手段と、上記各材料に電子線を照射することにより発生する各X線を用いて得られる各X線透過像をそれぞれ記憶する映像記憶手段と、その映像記憶手段に記憶された複数の映像から差分の映像を演算する差分演算手段を備えていることを特徴とするX線撮像装置。
IPC (8件):
G01N 23/04
, A61B 6/00 300
, A61B 6/00 333
, H04N 5/325
, G21K 5/04
, G21K 5/08
, H01J 35/08
, H01J 35/30
FI (9件):
G01N 23/04
, A61B 6/00 300 B
, A61B 6/00 333
, G21K 5/04 E
, G21K 5/08 X
, H01J 35/08 F
, H01J 35/08 C
, H01J 35/30
, A61B 6/00 350 S
Fターム (21件):
2G001AA01
, 2G001AA10
, 2G001AA20
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA09
, 2G001FA06
, 2G001HA13
, 2G001JA02
, 2G001JA20
, 2G001LA11
, 2G001NA13
, 2G001NA17
, 2G001SA10
, 4C093AA01
, 4C093AA22
, 4C093CA15
, 4C093CA32
, 4C093EA07
, 4C093FF34
引用特許:
審査官引用 (10件)
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特開昭54-027793
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画像重ね合せ方法およびエネルギーサブトラクション方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-250909
出願人:富士写真フイルム株式会社
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特開昭61-085929
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特開昭61-172538
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特開昭57-061937
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特開昭63-036137
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特開平1-301154
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X線診断装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-252676
出願人:株式会社東芝
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特開平3-183907
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X線管
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-168714
出願人:谷口一雄
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