特許

J-GLOBAL ID：200903075253705359

光パルス評価方法、光パルス評価装置、及び光通信システム

発明者： 小川 憲介
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-212009
公開番号（公開出願番号）：特開2003-028724
出願日： 2001年07月12日
公開日（公表日）： 2003年01月29日
要約：

【要約】【課題】 本願発明の目的は、信号のエラー発生率の小さな光伝送システム、並びにこうした光システムを提供するために有用な光パルス評価装置を提供することである。この為、任意の偏光状態にある超短光パルスの時間周波数特性を高感度で測定し評価することが肝要である。【解決手段】 本願発明の要点は、二光子遷移の効率が偏光に依存しない二光子遷移媒質を用意し、被測定光パルスを偏波無依存ビームスプリッターでプローブ光パルスとゲート光パルスに分割し、ゲート光パルスに可変の遅延時間を加えた後、プローブおよびゲート光パルスを高効率二光子吸収媒質に交差して入射し光ゲート機能を発生させ、透過したプローブ光パルスをスペクトル分解し光検出器で検知し、プローブ光パルスの電界吸収強度を遅延時間および周波数の関数として計測するにある。

請求項（抜粋）：

任意の偏光状態にある被測定光パルスと測定用ゲートとなる任意の偏光状態にあるゲート光パルスとを、二光子吸収による透過率変化と同時に二光子遷移の下で生ずる4光波混合を生じさせる媒質からなる構造体に入射し、通過した被測定光パルスと4光波混合により新たに発生する光パルスとを分離することにより、被測定光パルスと4光波混合による光パルスとの干渉を除去することを可能とし、被測定光パルスの透過率もしくは4光波混合による光パルスの強度をゲート光パルスのパワーの関数として変化させ、被測定光パルスに対するゲート光パルスの遅延時間を変化させることによりゲート光パルスを時間掃引し、被測定光パルスもしくは4光波混合による光パルスの時間分解を行ない、偏光依存性のないスペクトル分散部を通して被測定光パルスもしくは4光波混合による光パルスの周波数または波長分解を行ない、遅延時間および周波数または波長の関数であるスペクトログラムとして、任意の偏光状態にある被測定光パルスの強度および位相の時間変化を測定することを可能としたことを特徴とする光パルス評価方法。

IPC (3件)：

G01J 11/00 ,  G02F 1/35 ,  H04B 10/08

FI (3件)：

G01J 11/00 ,  G02F 1/35 ,  H04B 9/00 K

Fターム (31件)：

2G065AA12 ,  2G065AA13 ,  2G065AB02 ,  2G065AB09 ,  2G065AB14 ,  2G065AB28 ,  2G065BA01 ,  2G065BB02 ,  2G065BB04 ,  2G065BB14 ,  2G065BB15 ,  2G065BB28 ,  2G065BB36 ,  2G065BB38 ,  2G065BB50 ,  2G065CA08 ,  2G065CA30 ,  2G065DA13 ,  2K002AA02 ,  2K002AA04 ,  2K002AB40 ,  2K002BA03 ,  2K002BA04 ,  2K002CA13 ,  2K002EB14 ,  2K002GA10 ,  2K002HA22 ,  5K002BA02 ,  5K002BA05 ,  5K002CA14 ,  5K002EA05

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 光パルス評価装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-088527   出願人：株式会社日立製作所
• 光パルス幅測定装置及びそれを用いた光パルス幅測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-289298   出願人：キヤノン株式会社