特許
J-GLOBAL ID：200903008894157450

光パルス評価装置

発明者：
小川 憲介

小川 憲介 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 小川 勝男 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-088527
公開番号（公開出願番号）：特開2001-272279
出願日： 2000年03月24日
公開日（公表日）： 2001年10月05日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】光ファイバー中を伝送するあるいは半導体パルス光源から出射されるパルスエネルギー100fJ程度の微弱な光パルスの時間・周波数特性を評価する。【解決手段】高効率の二光子吸収媒質を用意し、被測定光パルスをビームスプリッターでプローブ光パルスとゲート光パルスに分割し、ゲート光パルスに可変の遅延時間を加えた後、おのおの高効率二光子吸収媒質に入射し光ゲート機能を発生させ、透過したプローブ光パルスをスペクトル分解し光検出器で検知し、プローブ光パルスの電界吸収強度の絶対値を遅延時間および周波数の関数として計測する。これにより、パルスエネルギー100fJ程度の微弱な被測定光パルスに対して時間・周波数特性が得られる。
請求項（抜粋）：
被測定光パルスと測定用ゲートとなるゲート光パルスとを、二光子吸収による透過率変化を示す媒質からなる構造体に同軸線上に重ねて入射し、前記被測定光パルスの透過率をゲート光パルスのパワーの関数として変化させ、被測定光パルスに対するゲート光パルスの遅延時間を変化させることによりゲート光パルスを時間掃引し、当該二光子吸収媒質を透過する被測定光パルスの電界の時間分解を行ない、被測定光パルスをスペクトル分散部に入射し被測定光パルスの周波数分解を行ない、遅延時間および周波数の関数であるスペクトログラムとして、被測定光パルスの電界強度の計測を可能なごとく構成したことを特徴とする光パルス評価装置。
IPC (4件)：
G01J 11/00 ,  G01J 3/28 ,  G01J 9/02 ,  G02F 1/35
FI (4件)：
G01J 11/00 ,  G01J 3/28 ,  G01J 9/02 ,  G02F 1/35
Fターム (54件)：
2G020AA03 ,  2G020BA02 ,  2G020BA20 ,  2G020CB04 ,  2G020CB42 ,  2G020CC02 ,  2G020CC04 ,  2G020CC07 ,  2G020CC27 ,  2G020CC29 ,  2G020CC30 ,  2G020CC42 ,  2G020CC47 ,  2G020CC52 ,  2G020CC63 ,  2G020CD04 ,  2G020CD15 ,  2G020CD24 ,  2G020CD35 ,  2G020CD36 ,  2G065AA12 ,  2G065AA13 ,  2G065AB02 ,  2G065AB10 ,  2G065AB14 ,  2G065AB19 ,  2G065BA02 ,  2G065BA09 ,  2G065BA33 ,  2G065BB02 ,  2G065BB14 ,  2G065BB23 ,  2G065BB27 ,  2G065BB28 ,  2G065BB32 ,  2G065BB33 ,  2G065BB38 ,  2G065BB49 ,  2G065BC03 ,  2G065BC09 ,  2G065BC13 ,  2G065BC15 ,  2G065BC19 ,  2G065BC22 ,  2G065BD03 ,  2G065CA12 ,  2G065CA21 ,  2G065CA23 ,  2G065DA01 ,  2K002AB40 ,  2K002BA02 ,  2K002CA13 ,  2K002DA01 ,  2K002HA22
引用特許：
審査官引用 (3件)

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