特許
J-GLOBAL ID:200903075401570972

X線検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 樺澤 襄 ,  樺澤 聡
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-327098
公開番号(公開出願番号):特開2007-132833
出願日: 2005年11月11日
公開日(公表日): 2007年05月31日
要約:
【課題】高速移動する被検査物12の鮮明な画像を取得できるX線検査装置11を提供する。【解決手段】移動中の被検査物12が検査位置14を通過する際に、その被検査物12を位置検出手段16で検出して位置検出信号を出力する。カメラコントロールユニット19は、位置検出手段16が出力する位置検出信号に同期して、X線発生手段17にX線照射信号を出力し、画像取込部20に画像取込信号を出力する。X線照射信号の入力したX線発生手段17は披検査物12にX線をパルス照射する。被検査物12を透過したX線像に対応した画像をカメラ手段18で撮影し、カメラコントロールユニット19のメモリ30に保存し、メモリ30に保存した画像を画像取込部20に取り込む。高速移動する被検査物12の鮮明な画像を取得できる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
移動中の被検査物が検査位置を通過する際にその被検査物を検出して位置検出信号を出力する位置検出手段と、 X線照射信号の入力により前記披検査物にX線をパルス照射するX線発生手段と、 このX線発生手段からパルス照射した被検査物のX線像に対応した画像を検出するカメラ手段と、 前記位置検出手段が出力する位置検出信号に同期して、前記X線発生手段にX線照射信号を出力してX線発生手段からX線をパルス照射させるとともに、前記カメラ手段で画像を検出させるパルス撮影機能を有するカメラコントロールユニットと を具備していることを特徴とするX線検査装置。
IPC (1件):
G01N 23/04
FI (1件):
G01N23/04
Fターム (8件):
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001JA13 ,  2G001PA11
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • X線検査装置自動検査システム
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-204696   出願人:株式会社日立製作所, 日立多賀エンジニアリング株式会社
審査官引用 (3件)

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