特許
J-GLOBAL ID:200903075420650707
分子の絶対配向方向と実効的な二次非線形光学定数との同時測定方法およびその装置
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
上島 淳一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-076122
公開番号(公開出願番号):特開2001-264250
出願日: 2000年03月17日
公開日(公表日): 2001年09月26日
要約:
【要約】【課題】測定点を変えることなく被測定対象物における分子の絶対配向方向と実効的な二次非線形光学定数とを同時に算出することができるようにし、また、被測定対象物における分子の絶対配向方向と実効的な二次非線形光学定数とを得るための測定に要する測定時間を短縮化し、被測定対象物に与えるダメージを最小限にすることができるようにする。【解決手段】被測定対象物の測定点をずらすことなしに、単一光源を用いて位相SHG法による測定を行い、この測定により得られたフリンジをフィッティングすることにより、そのフィッティングカーブから分子の絶対配向方向と実効的な二次非線形光学定数とを算出するようにした。
請求項(抜粋):
単一光源による位相第二高調波発生法により測定用参照試料を用いて被測定対象物に関するフリンジを得る第1のステップと、前記第1のステップにより得られた前記フリンジをフィッティングして実効的な二次非線形光学定数を得るとともに、該実効的な二次非線形光学定数の符号に基づいて分子の絶対配向方向を得る第2のステップとを有する分子の絶対配向方向と実効的な二次非線形光学定数との同時測定方法。
IPC (3件):
G01N 21/45
, G01N 21/23
, G02F 1/37
FI (3件):
G01N 21/45 A
, G01N 21/23
, G02F 1/37
Fターム (22件):
2G059AA05
, 2G059BB15
, 2G059EE04
, 2G059EE09
, 2G059FF08
, 2G059GG01
, 2G059GG04
, 2G059JJ11
, 2G059JJ19
, 2G059JJ21
, 2G059JJ30
, 2G059KK01
, 2G059LL01
, 2G059MM01
, 2G059PP01
, 2K002AA04
, 2K002AB12
, 2K002BA01
, 2K002CA06
, 2K002DA04
, 2K002GA10
, 2K002HA20
引用特許: