特許
J-GLOBAL ID：200903075433026026

工具測定装置

発明者：
稲崎 一郎

稲崎 一郎 について

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青山 藤詞郎

青山 藤詞郎 について

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中村 健二

中村 健二 について


出願人/特許権者：
牧野フライス精機株式会社

牧野フライス精機株式会社 について


代理人 (1件)： 青木 朗 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-257967
公開番号（公開出願番号）：特開平6-109440
出願日： 1992年09月28日
公開日（公表日）： 1994年04月19日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 エンドミルやボールエンドミル、ツイストドリル等の複雑な形状を有する旋削工具の複数の寸法、形状精度を1回の段取りにより簡単、迅速に、かつ高精度に測定可能な工具測定装置を提供する。【構成】 被測定工具24はチャック22を介してワークスピンドル20に取着される。ワークスピンドル20は、所定の軸線の回りには回転可能であるが、同軸線に沿って長手方向には動作不能に固定されている。これに対して、測定手段たる透過型レーザ測定装置42、44と、顕微鏡30と、電気マイクロメータは、X軸、U軸、Y軸方向に移動可能に構成されたテーブル6、12、16上に固定されている。従って、被測定工具24を回転軸回りに回転させ、或いは各テーブルをX、U軸およびY軸方向に移動させて、その移動距離を測定することにより、被測定工具24の各部の寸法、形状精度を測定するように構成されている。
請求項（抜粋）：
エンドミルやツイストドリル等の工具(24)の寸法、形状精度を測定するための測定装置において、前記工具(24)を所定の略水平な軸線(a)の回りに回転自在に保持すると共に、その回転角度を検知可能に構成された工具保持手段(18、20、22)と、前記工具(24)を保持する前記工具保持手段(18、20、22)を前記軸線(a)の回りに回転駆動するための回転駆動手段(25、26)と、略水平面内で前記軸線(a)の方向、及び同軸線(a)に対して垂直な方向に動作可能に構成されると共に、その変位量を検知可能に構成されたテーブル手段(6、12、16)と、前記テーブル手段(6、12、16)を、各々の案内手段(4、10、14)に沿って直線駆動させるためのテーブル駆動手段(34、36:38、40:48、50)と、レーザ発振器とレーザ受光素子とを有し、該レーザ発振器とレーザ受光素子との間の測定領域(L1,L2)にレーザ光線を走査して、測定対象物により遮蔽されたレーザ光線の明暗に対応する出力電圧により、測定対象物の寸法を測定可能に構成された透過型レーザ測定装置(42、44)であって、前記測定領域(L1、L2)が互いに垂直となるように前記テーブル(6、12、16)上に固定された2つの透過形レーザ測定器(42、44)と、前記工具保持手段(18、20、22)により所定位置に保持された工具(24)を、上方より観察可能に前記テーブル(6、12、16)上に固定された顕微鏡(30)であって、その光軸が前記軸線(a)に対して垂直となるように配置された顕微鏡(30)と、前記工具(24)の表面に接触して、該工具(24)の鉛直方向の寸法を測定可能に構成された電気マイクロメータ(52)と、測定された前記工具(24)の前記軸線(a)回りの回転角と、前記テーブル手段(6、12、16)の各々の案内手段(4、10、14)に沿った移動量と、前記透過形レーザ測定器(42、44)による測定値と、前記電気マイクロメータ(52)による測定値を所定の手順に従って演算、処理して前記工具(24)の寸法、形状精度を得る制御装置とを具備して構成され、前記工具保持手段(18、20、22)に保持された工具(24)の寸法、形状精度等の複数の形状パラメータを非接触式に、或いは接触式にて順次測定可能な工具測定装置。
IPC (2件)：
G01B 11/24 ,  G01B 5/00
引用特許：
出願人引用 (12件)
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審査官引用 (12件)
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