特許
J-GLOBAL ID：200903075500618200
非接触式回路ルート検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田中 雅雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-339704
公開番号（公開出願番号）：特開平6-160456
出願日： 1992年11月26日
公開日（公表日）： 1994年06月07日
要約：
【要約】【目的】 電気回路が絶縁物で覆われていても回路ルートの検査を行えるようにする。【構成】 検査すべき回路に高周波信号を印加する高周波信号発生器2を設ける。検査すべき回路のルートをたどって高周波信号を受信する主受信電極6を有するプローブ5を用いる。主受信電極6で受信した高周波信号を主検波増幅器8で検波増幅して回路検出電圧を発生させる。回路検出電圧と比較基準電圧とをレベル比較器9で比較する。レベル比較器9の比較結果を表示器12で表示させる。
請求項（抜粋）：
検査すべき回路のいずれかの部分に高周波信号を印加する高周波信号発生器と、検査すべき回路に接近させて前記高周波信号を非接触で受信する主受信電極を有するプローブと、前記主受信電極で受信された前記高周波信号を検波増幅して回路検出電圧を発生する主検波増幅器と、比較基準電圧を発生する比較基準電圧発生器と、前記回路検出電圧と前記比較基準電圧とを比較するレベル比較器と、前記レベル比較器の比較結果を表示する表示器とを備えてなる非接触式回路ルート検査装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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