特許
J-GLOBAL ID：200903075559259069
テストグループ作成装置及びその作成方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
丸山 隆夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-365449
公開番号（公開出願番号）：特開2000-187064
出願日： 1998年12月22日
公開日（公表日）： 2000年07月04日
要約：
【要約】【課題】 半導体集積回路の複雑化、ピン数の増加の場合にもテストグループを間違いなく、しかも短時間で作成できるようにすることにある。【解決手段】 テストグループ作成装置3は、半導体集積回路であるLSIのテストグループを作成する。論理ピン-テスタピン対応手段31は、LSIピンアサイン情報1から論理ピンとテスタピンの情報からLSIピン構成情報4を作成し、グルーピング条件2により、LSIピン構成情報4をグループ作成手段32でグルーピングし、グルーピングしたピンの情報をLSIテスタで読めるフォーマットに加工し、グルーピング情報出力手段とから出力する。グルーピング条件をあらかじめ定義しておくことで、グルーピング情報出力手段において、判読可能なフォーマットのグルーピング情報に加工して出力し、LSIが複雑化し、ピン数が増加する場合であっても、LSI毎に異なるピンのグルーピングが自動化でき、テストグループを間違いがなく短時間で作成することができる。
請求項（抜粋）：
半導体集積回路の論理ピンとテスタピンに対応する情報からピン構成情報を作成する論理ピン-テスタピン対応手段と、テストグループの分け方の条件を示したグルーピング条件により、前記ピン構成情報のグループを作成するグループ作成手段と、前記グループを作成したピン構成情報を判読可能なフォーマットのグルーピング情報として加工し、出力するグルーピング情報出力手段と、を備えたことを特徴とするテストグループ作成装置。
IPC (5件)：
G01R 31/3183
, G01R 31/28
, G06F 11/22 310
, G06F 11/22
, G06F 17/50
G01R 31/28 Q
, G06F 11/22 310 A
, G06F 11/22 310 B
, G01R 31/28 F
, G06F 15/60 670 G
