特許
J-GLOBAL ID：200903075679707430
薄板の表面欠陥の分布形態解析装置、薄板の表面欠陥の分布形態解析方法、コンピュータプログラム、及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-112225
公開番号（公開出願番号）：特開2005-257660
出願日： 2004年04月06日
公開日（公表日）： 2005年09月22日
要約：
【課題】 自動疵検査装置等によって収集された疵データから、疵の分布形態に関する情報を定量的な指標として自動的に抽出する。【解決手段】 自動疵検査装置で採取された疵データの位置座標と疵グループの重心位置との距離を算出して、疵同士を自動的にグループ化し、各疵グループを二次元の正規分布関数で表現し、その疵グループの重心位置や空間サイズ、疵個数密度といった疵分布に係わる特徴量を、評価指標に基づいて最適となるように計算処理を行う。この結果、人間による分析処理に比べて、再現性の高い客観的かつ定量的な特徴量を抽出することが可能となり、疵の発生位置と操業条件の相関解析など、大量の疵分布データを用いた解析を迅速に行うことが出来る。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
鉄鋼製品である薄板コイルに発生する表面欠陥の分布形態を解析して、その発生要因を分析する薄板の表面欠陥の分布形態解析装置であって、
前記薄板コイルの表面疵の発生位置に関する座標データを入力する疵データ入力手段と、
前記疵データ入力手段によって入力された表面疵の座標データを蓄積する疵データ蓄積手段と、
前記疵データ蓄積手段によって蓄積された表面疵の座標データに基づいて、前記薄板コイルの疵分布形態を、定量的な数値として特徴量化する演算処理を行う疵分布特徴量算出手段と、
前記疵分布特徴量算出手段によって演算処理された疵分布形態の特徴量の解析結果を、ユーザに提示する為の解析結果表示手段とを備えたことを特徴とする薄板の表面欠陥の分布形態解析装置。
IPC (4件)：
G01N21/892
, B21C51/00
, G06T1/00
, G06T7/60
G01N21/892 B
, B21C51/00 P
, G06T1/00 300
, G06T7/60 150C
2G051AA37
, 2G051AA90
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EC01
, 2G051EC02
, 2G051EC03
, 2G051ED21
, 2G051ED23
, 5B057AA01
, 5B057BA02
, 5B057DA03
, 5B057DA13
, 5B057DB02
, 5B057DC04
, 5B057DC06
, 5B057DC19
, 5L096BA03
, 5L096DA02
, 5L096FA17
, 5L096FA35
, 5L096FA59
, 5L096FA60
, 5L096FA66
, 5L096FA69
