特許
J-GLOBAL ID：200903093319481706

パターン識別方法およびパターン識別装置

発明者：
中田 一樹

中田 一樹 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (1件)： 岩橋 文雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-110981
公開番号（公開出願番号）：特開2002-310927
出願日： 2001年04月10日
公開日（公表日）： 2002年10月23日
要約：
【要約】【課題】 平面上に分布している複数の点からなるデータから、特徴的な分布状態にある複数の点の集合体に着目し、互いに類似しているデータを検出する。【解決手段】 平面上に分布している複数の点の位置を示すデータAおよびデータBについて、データA内およびデータB内において密集した複数の点を1つの集合体と認識する集合体を抽出する。次に、各集合体の中心の位置を算出する位置を解析する。次に、データAの集合体の中心の位置とデータBの集合体の中心の位置との距離が予め設定した範囲内であれば、互いの集合体は類似していると判断する。これにより、特徴的な分布状態にある集合体を抽出し、その出現位置を比較して互いに類似している分布データを検出する。
請求項（抜粋）：
平面上に分布している複数の点の位置を示すデータ1およびデータ2について、前記データ1内およびデータ2内において密集した複数の点を1つの集合体と認識する集合体抽出工程と、前記各集合体の中心の位置を算出する位置解析工程と、前記データ1の集合体の中心の位置と前記データ2の集合体の中心の位置との距離が予め設定した範囲内であれば、互いの集合体は類似していると判断する診断工程とを有することを特徴とするパターン識別方法。
IPC (4件)：
G01N 21/956 ,  G06T 1/00 305 ,  G06T 7/00 300 ,  H01L 21/66
FI (4件)：
G01N 21/956 A ,  G06T 1/00 305 A ,  G06T 7/00 300 F ,  H01L 21/66 J
Fターム (37件)：
2G051AA51 ,  2G051AB02 ,  2G051EA14 ,  2G051EC02 ,  2G051ED22 ,  2G051ED23 ,  4M106AA01 ,  4M106BA01 ,  4M106CA39 ,  4M106CA50 ,  4M106DB21 ,  4M106DJ17 ,  4M106DJ21 ,  4M106DJ27 ,  5B057AA03 ,  5B057CA02 ,  5B057CA06 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CC01 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB08 ,  5B057DC02 ,  5B057DC06 ,  5B057DC08 ,  5B057DC32 ,  5L096AA03 ,  5L096AA07 ,  5L096BA03 ,  5L096FA60 ,  5L096FA62 ,  5L096FA66 ,  5L096FA67 ,  5L096FA69 ,  5L096GA08
引用特許：
審査官引用 (3件)

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