特許
J-GLOBAL ID：200903075713901739

焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム

発明者：
小澤 淳史

小澤 淳史 について

, 
多田 満

多田 満 について


出願人/特許権者：
ソニー株式会社

ソニー株式会社 について


代理人 (1件)： 頭師 教文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-014834
公開番号（公開出願番号）：特開2006-201631
出願日： 2005年01月21日
公開日（公表日）： 2006年08月03日
要約：
【課題】焼き付き補正前の入力信号を用いて補正量を決定するため、補正効果による劣化量差の改善を別途計算して累積劣化量差に反映させる仕組みが必要であった。【解決手段】複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置として、(a)自発光素子の駆動条件に関する入力信号を、逐次決定された補正量に基づいて補正する劣化量差補正部と、(b)補正後の入力信号に基づいて、各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、(c)各画素について算出された劣化量差を累積加算し、各画素についての累積劣化量差を算出する累積劣化量差算出部と、(d)累積劣化量差に基づいて、入力信号の補正に使用する補正量を逐次決定する補正量決定部とを有するものを提案する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、 自発光素子の駆動条件に関する入力信号を、逐次決定された補正量に基づいて補正する処理と、 補正後の入力信号に基づいて、各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、 各画素について算出された劣化量差を累積加算し、各画素についての累積劣化量差を算出する処理と、 前記累積劣化量差に基づいて、入力信号の補正に使用する前記補正量を逐次決定する処理と を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
IPC (5件)：
G09G 3/30 ,  G09G 3/20 ,  G09G 5/00 ,  G09G 5/10 ,  G09G 3/28
FI (9件)：
G09G3/30 K ,  G09G3/30 H ,  G09G3/20 612U ,  G09G3/20 641P ,  G09G3/20 650M ,  G09G3/20 670K ,  G09G5/00 550A ,  G09G5/10 Z ,  G09G3/28 K
Fターム (33件)：
5C080AA05 ,  5C080AA06 ,  5C080BB05 ,  5C080CC03 ,  5C080DD05 ,  5C080DD22 ,  5C080DD29 ,  5C080EE28 ,  5C080GG02 ,  5C080GG12 ,  5C080JJ02 ,  5C080KK02 ,  5C080KK07 ,  5C080KK43 ,  5C082BA35 ,  5C082BB51 ,  5C082BD01 ,  5C082CA11 ,  5C082CA81 ,  5C082CA85 ,  5C082CB01 ,  5C082DA71 ,  5C082DA87 ,  5C082MM02 ,  5C082MM04 ,  5C580BB07 ,  5C580BB27 ,  5C580CA06 ,  5C580CC08 ,  5C580DB05 ,  5C580EA05 ,  5C580FA05 ,  5C580FA08
引用特許：
出願人引用 (1件)

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