特許

J-GLOBAL ID：200903075852054633

磁粉探傷法と装置

発明者： 伴野 貢市 ,  水野 正道 ,  藤沢 淳一
出願人/特許権者： 新日本製鐵株式会社 ,  ニッテツ北海道制御システム株式会社
代理人 (1件)： 矢葺 知之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-131162
公開番号（公開出願番号）：特開2000-321250
出願日： 1999年05月12日
公開日（公表日）： 2000年11月24日
要約：

【要約】【課題】 被検査材の表面疵を探傷する磁粉探傷法において、探傷の検出精度を飛躍的に改善することができる方法と装置を提供する。【解決手段】 磁粉探傷法において、被検査材1に蛍光磁粉を散布すると共に磁化して被検査材の表面疵部分に吸着される磁粉模様を形成した後、板状の連続流体を成す洗浄水2により被検査材表面の疵部分以外に付着した蛍光磁粉を除去するように洗浄し、その後、磁粉模様を目視またはデテクターで検出する。

請求項（抜粋）：

磁粉探傷法において、被検査材に蛍光磁粉液を散布すると共に磁化して被検査材の表面疵部分に吸着される磁粉模様を形成した後、板状の連続流体を成す洗浄水により被検査材表面の疵部分以外に付着した蛍光磁粉を除去するように洗浄し、その後、磁粉模様を目視またはデテクターで検出することを特徴とする磁粉探傷法。

IPC (2件)：

G01N 27/84 ,  G01N 21/91

FI (2件)：

G01N 27/84 ,  G01N 21/91 B

Fターム (12件)：

2G051AA44 ,  2G051AB02 ,  2G051AC12 ,  2G051DA08 ,  2G051GB03 ,  2G051GC02 ,  2G053AA11 ,  2G053AB22 ,  2G053BA13 ,  2G053BB04 ,  2G053DC15 ,  2G053DC17

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開昭51-143386
  
• 特開昭52-004282
  
• 特開昭62-025253
  
• ブラシ式洗浄装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-023758   出願人：株式会社湯浅製作所
• 特開平1-250535