特許

J-GLOBAL ID：200903075949673494

成形品のバリ検査装置およびそのバリ検査方法

発明者： 伊藤 一朋
出願人/特許権者： エヌオーケー株式会社
代理人 (1件)： 佐藤 隆久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-004671
公開番号（公開出願番号）：特開平11-201739
出願日： 1998年01月13日
公開日（公表日）： 1999年07月30日
要約：

【要約】【課題】 成形品の外バリを画像処理に於いて、正確に寸法を撮像できるようにして不良品を判別することにある。又、その検査方法を得ることにある。【解決手段】 周面にバリが形成されている被検査成形品Sを回動して回動径方向から撮影カメラ2で撮像し、これを演算回路部16でバリの長さによる不良を判別するものである。又その検査方法である。

請求項（抜粋）：

被検査成形品(S)にバリ(B)を有する周面を回動させる回動装置(25)と、前記回動装置(25)に取付けられた前記被検査成形品(S)のバリ(B)の回転径方向に配置されているとともにエリアセンサ(4)を有する撮影カメラ(2)と、前記撮影カメラ(2)の対向側に配置されて前記被検査成形品(S)のバリ(B)を撮影カメラ(2)側に照射する照明装置(24)とを具備し、前記撮影カメラ(2)で撮影した光からの光電変換信号を演算して前記被検査成形品(S)の前記バリ(B)の形状を判定する演算回路部(16)を有することを特徴とする成形品のバリ検査装置。

IPC (4件)：

G01B 11/24 ,  F16J 15/00 ,  G01B 11/02 ,  G06T 7/00

FI (4件)：

G01B 11/24 K ,  F16J 15/00 B ,  G01B 11/02 H ,  G06F 15/62 400

引用特許：

審査官引用 (4件)

• ネジ欠陥検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-099566   出願人：日本電装株式会社
• 特開平1-207607
  
• 特開平1-207607
  
• 特開昭50-018980