特許

J-GLOBAL ID：200903075988155468

分析装置

発明者： 浅野 一朗 ,  木原 信隆 ,  戸川 進
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 山村 喜信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-331695
公開番号（公開出願番号）：特開平8-159968
出願日： 1994年12月08日
公開日（公表日）： 1996年06月21日
要約：

【要約】【目的】 分析装置の保守・交換を容易にする。【構成】 たとえばガス分析装置において、光源2、セル1、赤外線検出器3などを含む検出部10の第1の基板13に、EPROM7を実装する。このEPROM7には、検出部10のもつ個体差によって決まる係数が記憶されており、第2の基板23に実装したCPU21が、上記係数および検出値に基づいて演算を行う。

請求項（抜粋）：

検出器からの出力をプリアンプで増幅した検出データを出力する検出部と、この検出部の個体差によって決まる1以上の係数を記憶している係数記憶部と、上記係数および検出データに基づいて分析値を算出する演算部とを備えた分析装置において、上記係数記憶部を構成する不揮発性メモリを含む部分を、上記演算部に対して取り外し自在としたことを特徴とする分析装置。

IPC (2件)：

G01N 21/35 ,  G01N 21/61

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開昭63-049128
  
• 特開昭63-218842
  
• 電子内視鏡装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-227559   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 特開平3-001847
  
• 特開平3-109059