特許
J-GLOBAL ID:200903076198298346
発光素子の検査方法及び装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
高矢 諭
, 牧野 剛博
, 松山 圭佑
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-103007
公開番号(公開出願番号):特開2004-311209
出願日: 2003年04月07日
公開日(公表日): 2004年11月04日
要約:
【課題】計測対象の設置環境を問わず、高い信頼性と、幅広い拡張性を実現する。【解決手段】恒温槽31〜34内に配設された有機El素子8の発光特性を検査する際に、該有機EL素子8の光を、光ファイバ41を用いて、恒温槽31〜34外に配設したカラーCCDカメラ42まで導く。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
試験空間内に配設された発光素子の発光特性を検査する際に、
発光素子の光を、光ファイバを用いて、試験空間外に配設した光検知手段まで導くことを特徴とする発光素子の検査方法。
IPC (3件):
H05B33/10
, G09F9/00
, H05B33/14
FI (3件):
H05B33/10
, G09F9/00 352
, H05B33/14 A
Fターム (12件):
3K007AB18
, 3K007DB03
, 3K007FA00
, 5G435AA04
, 5G435AA17
, 5G435BB05
, 5G435BB06
, 5G435CC09
, 5G435CC12
, 5G435FF08
, 5G435KK05
, 5G435KK10
引用特許:
審査官引用 (8件)
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特開昭62-133327
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特開平2-105026
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特開平1-187419
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