特許
J-GLOBAL ID:200903076285762245

アンテナ測定法及びそれを用いたアンテナ測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高田 守 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-120195
公開番号(公開出願番号):特開平11-311650
出願日: 1998年04月30日
公開日(公表日): 1999年11月09日
要約:
【要約】【課題】 高周波数で使用される反射鏡アンテナの位相分布を簡易な方法で推定し、精度よくアンテナの放射特性を測定するアンテナの測定法を得ること。【解決手段】 反射鏡アンテナの測定法において、被測定アンテナ1の鏡面誤差を考慮して計算によって得た被測定アンテナ開口の位相分布と、被測定アンテナ1の開口から離れた位置の1つの測定面2で測定した振幅分布とを用いた位相推定アルゴリズムにより、上記測定面2における位相分布を推定し、この位相分布の推定値と先の振幅分布の測定値とを用いて、被測定アンテナ1の放射特性を推定することを特徴とする。
請求項(抜粋):
反射鏡アンテナの測定法において、被測定アンテナの鏡面誤差を考慮して計算によって得た被測定アンテナ開口の位相分布と、被測定アンテナ開口から離れた位置の1つの測定面で測定した振幅分布とを用いた位相推定アルゴリズムにより、上記測定面における位相分布を推定し、この位相分布の推定値と先の振幅分布の測定値とを用いて、被測定アンテナの放射特性を推定することを特徴とするアンテナ測定法。
FI (2件):
G01R 29/10 C ,  G01R 29/10 A
引用特許:
審査官引用 (3件)

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