特許
J-GLOBAL ID:200903076700447911
感度を高めた、眼軸の長さの干渉測定装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
恩田 博宣
, 恩田 誠
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-536034
公開番号(公開出願番号):特表2007-508879
出願日: 2004年10月20日
公開日(公表日): 2007年04月12日
要約:
行程長を調整可能な干渉測定装置と、照明装置(1)と、光線の成形および/または案内および/または結像のための光学素子と、固定光源と、眼のアライメンント状態の把握のための検出素子と、干渉信号を検出するための光検出器と、長さ測定システムと、制御・解析装置とを備えた眼軸長測定装置。固定光源(2)は、可視光を発し、照明装置は、眼内における散光成分がごくわずかしか発生しない波長900nm〜1100nmの測定光を発する。本解決法は、眼の眼軸長および/または角膜曲率および/または前房深度を測定するための複合装置に利用すると有利である。埋め込み用眼内レンズの決定に必要なデータの非接触式測定、および、伝送エラーの回避のほか、感度が高められる。
請求項(抜粋):
行程長を調整可能な干渉測定装置と、測定光線を発生するための照明装置と、測定光線の光線の成形および/または案内および/または結像のための光学素子と、固定光源と、眼のアライメンント状態の把握と表示のための検出素子と、干渉信号を検出するための光検出器と、長さ測定システムと、制御・解析装置とを備えた非接触式眼軸長測定装置において、前記固定光源が、可視光スペクトル範囲の波長の光線を発し、前記照明装置が、波長900nm〜1100nmの測定光線を発することを特徴とする非接触式眼軸長測定装置。
IPC (2件):
FI (3件):
A61B3/10 Z
, G01B11/02 G
, A61B3/10 R
Fターム (12件):
2F065AA22
, 2F065CC16
, 2F065FF49
, 2F065FF51
, 2F065GG04
, 2F065GG07
, 2F065GG21
, 2F065GG22
, 2F065JJ18
, 2F065JJ26
, 2F065LL36
, 2F065LL47
引用特許:
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