特許
J-GLOBAL ID:200903076796621313

筋状欠陥検出方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 木下 實三 ,  中山 寛二 ,  石崎 剛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-165905
公開番号(公開出願番号):特開2005-345290
出願日: 2004年06月03日
公開日(公表日): 2005年12月15日
要約:
【課題】 点状欠陥やシミ等のノイズを検出することなく、筋状欠陥を高精度に検出することができる筋状欠陥検出方法及び装置を提供する。【課題手段】 筋状欠陥検出処理工程は、検査対象となる着目画素を選択し、その着目画素を中心とする所定サイズの領域を選択する領域選択工程と、領域選択工程で選択された領域内において、予め設定された閾値以上の輝度値の画素を、その輝度値が大きい順に所定数抽出する画素抽出工程と、画素抽出工程で抽出された各画素と、前記着目画素を通る角度基準線との距離の積算最小値を求める距離算出工程と、距離算出工程で算出された積算最小値に基づく投票値を、画像に対応する投票空間において前記着目画素に対応する部分に投票する投票工程と、を備える。【選択図】 図10
請求項(抜粋):
撮像した画像内の各画素に対して筋状欠陥検出処理を行う筋状欠陥検出処理工程を備え、 前記筋状欠陥検出処理工程は、 検査対象となる着目画素を選択し、前記着目画素を中心とする所定サイズの領域を選択する領域選択工程と、 前記領域選択工程で選択された領域内において、予め設定された閾値以上の輝度値の画素を、前記輝度値が大きい順に所定数抽出する画素抽出工程と、 前記画素抽出工程で抽出された各画素と、前記着目画素を通る角度基準線との距離の積算最小値を求める距離算出工程と、 前記距離算出工程で算出された積算最小値に基づく投票値を、画像に対応する投票空間において前記着目画素に対応する部分に投票する投票工程と、 を備えることを特徴とする筋状欠陥検出方法。
IPC (5件):
G01N21/956 ,  G01M11/00 ,  G06T1/00 ,  G06T5/00 ,  G06T7/60
FI (5件):
G01N21/956 Z ,  G01M11/00 T ,  G06T1/00 300 ,  G06T5/00 100 ,  G06T7/60 200G
Fターム (26件):
2G051AA73 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051EA08 ,  2G051EB01 ,  2G051EC01 ,  2G051EC02 ,  2G051ED03 ,  2G051ED08 ,  2G051ED15 ,  2G051ED22 ,  2G086EE10 ,  5B057AA03 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CH01 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC23 ,  5L096AA06 ,  5L096FA03 ,  5L096FA14 ,  5L096FA24 ,  5L096FA67
引用特許:
出願人引用 (2件)

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