特許
J-GLOBAL ID：200903076955714212
強磁性伝熱管の欠陥検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
中山 亨
, 榎本 雅之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-278512
公開番号（公開出願番号）：特開2008-096290
出願日： 2006年10月12日
公開日（公表日）： 2008年04月24日
要約：
【課題】反応器、熱交換器、ボイラー等の強磁性伝熱管の外部に設けられたバッフルまたは支持具の部分の強磁性伝熱管に形成された欠陥を精度良く検査する方法を提供する。【解決手段】強磁性伝熱管の外部に設けられたバッフルまたは支持具の部分の強磁性伝熱管に形成された欠陥の検査方法であって、強磁性伝熱管の検査部を0.7〜1.0テスラの磁束密度に磁化する磁気回路および漏洩磁束センサを備えたプローブを用いて強磁性伝熱管内を走査して検査する特徴とする。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
強磁性伝熱管の外部に設けられたバッフルまたは支持具の部分の強磁性伝熱管に形成された欠陥の検査方法であって、強磁性伝熱管の検査部を0.7〜1.0テスラの磁束密度に磁化する磁気回路および漏洩磁束センサを備えたプローブを用いて強磁性伝熱管内を走査して検査する特徴とする強磁性伝熱管の欠陥検査方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (10件)：
2G053AA11
, 2G053AB22
, 2G053BA23
, 2G053BA26
, 2G053BC14
, 2G053BC20
, 2G053CA05
, 2G053CA06
, 2G053DA01
, 2G053DB19
