特許
J-GLOBAL ID：200903077016214327
磁気ディスク検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
梶山 佶是 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-136675
公開番号（公開出願番号）：特開平6-325361
出願日： 1993年05月14日
公開日（公表日）： 1994年11月25日
要約：
【要約】【目的】 2組の磁気ディスク検査装置のコストパホーマンスを向上する。【構成】 2組の検査装置10L,10Rに対して共通する1組の突起信号処理回路5およびサーティファイ回路6、ならびに、これらの両回路を、2組の検査装置に対して交互に接続する切替えスイッチ9をそれぞれ設ける。スイッチ9の切替えにより、2組の一方の検査装置のグライド・ヘッド(GH)が出力する突起検出信号を突起信号処理回路5に入力し、他方の検査装置の第1および第2のサーティファイ・ヘッド(CHA),(CHB)が出力するサーティファイ信号をサーティファイテスト回路6に入力して、2組の検査装置の各スピンドル2L,2Rに装着された2枚のディスク1L,1R に対するグライドテストとサーティファイテストとを並列、かつ交互に行う。【効果】 目的が達成される。
請求項（抜粋）：
被検査の磁気ディスクを装着して回転するスピンドルと、該スピンドルをY方向の一定距離間隔Y1 に移動するスピンドル移動機構と、該スピンドルの両側の一方に、バーニッシュ・ヘッド(BH)と第1のサーティファイ・ヘッド(CHA)が、他方にグライド・ヘッド(GH)と第2のサーティファイ・ヘッド(CHB)が、それぞれ前記一定距離間隔Y1 に配設され、該グライド・ヘッドに対する突起信号処理回路と、該第1および第2のサーティファイ・ヘッドに対するサーティファイ回路を有し、前記磁気ディスクの表面に対するバーニッシュ、グライドテスト、サーティファイの順序で直列に行う磁気ディスク検査装置において、該磁気ディスク検査装置の2組と、該2組の検査装置に対する共通の1組の前記突起信号処理回路およびサーティファイ回路、ならびに、該2組の検査装置に対して、該突起信号処理回路とサーティファイ回路を交互に接続する切替えスイッチをそれぞれ設け、該スイッチの切替えにより、該2組の一方の検査装置のグライド・ヘッド(GH)の出力する突起検出信号を前記突起信号処理回路に入力し、他方の検査装置の前記各サーティファイ・ヘッド(CHA),(CHB)が出力するサーティファイ信号を前記サーティファイ回路に入力して、前記2組の検査装置の各スピンドルに装着された2枚の磁気ディスクに対するグライドテストとサーティファイテストとを並列、かつ交互に行うことを特徴とする、磁気ディスク検査方法。
IPC (2件)：
G11B 5/84
, G01B 21/30 101
