特許
J-GLOBAL ID：200903077283270198
検査データ作成方法およびこの方法を用いた基板検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴木 由充
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-228181
公開番号（公開出願番号）：特開2004-071781
出願日： 2002年08月06日
公開日（公表日）： 2004年03月04日
要約：
【課題】検査用ウィンドウの設定データを修正する処理を自動化する。【解決手段】CADデータと部品ライブラリとを組み合わせて検査データを作成した後、検査対象となる基板のベアボードの画像を用いて、検査用ウィンドウの設定データを自動修正する。この修正処理では、ベアボードの画像上に前記検査データに基づく検査用ウィンドウを設定した後、他のウィンドウの設定基準となる検査用ウィンドウW4内の画像を2値化し、この2値画像上のランド35を検出する。さらにこの検出結果に基づき、はんだ検査用のランドウィンドウW1の設定位置やサイズを修正した後、この修正に応じて、他の検査用ウィンドウW2〜W4の設定位置を修正する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
画像処理により部品実装基板を検査するための検査データを作成する方法であって、
検査対象の基板について、基板上の各部品毎に、あらかじめ作成された部品ライブラリからその部品に対応する検査データを読み出して前記部品の実装位置に設定する処理を実行した後、前記検査対象の基板のモデルを撮像して得られた画像上でランドに対応する画像領域を検出し、この検出結果に基づき前記検査データに含まれる検査用ウィンドウの設定データを修正することを特徴とする検査データ作成方法。
IPC (3件)：
H05K13/08
, G01N21/956
, H05K3/00
H05K13/08 U
, G01N21/956 Z
, H05K3/00 Q
2G051AA61
, 2G051AA65
, 2G051AB14
, 2G051BA01
, 2G051BA08
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051CB05
, 2G051DA05
, 2G051EA11
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EA16
, 2G051EA17
, 2G051EB01
, 2G051EB09
, 2G051EC02
, 2G051ED01
, 2G051ED21
