特許

J-GLOBAL ID：200903077348099360

赤外線ガス分析計における干渉補正方法

発明者： 武田 賢二 ,  浅野 一朗
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-027511
公開番号（公開出願番号）：特開平8-201287
出願日： 1995年01月23日
公開日（公表日）： 1996年08月09日
要約：

【要約】【目的】 主検出器の出力と補償検出器との差に基づいて干渉成分補正を行うようにした赤外線ガス分析計において、干渉補正を確実に行うことができる方法を提供すること。【構成】 サンプルガスSが供給されるセル2の一端側に赤外光源4を設け、他方に主検出器5と補償検出器6とを光学的に直列に配置し、主検出器5の出力と補償検出器6との差に基づいて干渉成分補正を行うようにした赤外線ガス分析計において、前記補償検出器6の干渉ガス特性を主検出器5の干渉ガス特性に合わせ込むようにしている。

請求項（抜粋）：

サンプルガスが供給されるセルの一端側に赤外光源を設け、他方に主検出器と補償検出器とを光学的に直列に配置し、主検出器の出力と補償検出器との差に基づいて干渉成分補正を行うようにした赤外線ガス分析計において、前記補償検出器の干渉ガス特性を主検出器の干渉ガス特性に合わせ込むようにしたことを特徴とする赤外線ガス分析計における干渉補正方法。

引用特許：

審査官引用 (2件)

• シングルビーム型ガス分析計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-116851   出願人：株式会社堀場製作所
• 特開平4-105024