特許
J-GLOBAL ID：200903077356518851
半導体X線検出器
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-185705
公開番号（公開出願番号）：特開2001-013253
出願日： 1999年06月30日
公開日（公表日）： 2001年01月19日
要約：
【要約】【課題】 クライオスタット内の温度を効率良く、かつ十分に上げることができる半導体X線検出器を提供する。【解決手段】 ガス循環式冷凍機によって、クライオスタット13内のコールドヘッド7を冷却し、このコールドヘッド7と熱的に接続されたX線検出素子12’を冷却するようにした半導体X線検出器Dであって、前記クライオスタット13内の少なくとも一部を直接加熱する手段18を備えた。
請求項（抜粋）：
ガス循環式冷凍機によって、クライオスタット内のコールドヘッドを冷却し、このコールドヘッドと熱的に接続されたX線検出素子を冷却するようにした半導体X線検出器であって、前記クライオスタット内の少なくとも一部を直接加熱する手段を備えたことを特徴とする半導体X線検出器。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (6件)：
2G088EE30
, 2G088FF03
, 2G088GG23
, 2G088JJ09
, 2G088JJ33
, 2G088JJ36
