特許
J-GLOBAL ID：200903077425173578
計測用撮像装置の校正値測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石原 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-158938
公開番号（公開出願番号）：特開平11-006711
出願日： 1997年06月16日
公開日（公表日）： 1999年01月12日
要約：
【要約】【課題】 照明や測定治具のエッジ形状の影響を受け難く、全自動で高精度に計測用撮像装置の校正値を測定する。【解決手段】 正方形平面の各辺に検出対象を等間隔に配した測定治具12を測定対象となる撮像装置11の視野中央位置に回転しない状態で設置して撮像し、測定治具の画像データを得る。検出対象の各中心位置P1〜P32を平均して算出した測定治具の中心16と視野中心とのずれ量から撮像装置の取付位置板ずれ量を算出し、各辺の検出対象の中心位置を直線近似した直線17の傾きθ1〜θ4の平均から取付回転ずれ量を算出し、対面する検出対象間の距離l1〜l8の平均から1画素の実寸換算値を算出する。
請求項（抜粋）：
周囲の所定位置に所定間隔で検出対象を配した測定治具を校正対象である撮像装置と所定の位置関係に設置する第1の工程と、設置された測定治具を撮像し画像データを得る第2工程と、測定治具の画像データより周囲の検出対象の各中心位置を検出する第3工程と、検出対象の各中心位置から撮像装置の校正値を計算する第4工程とを備えたことを特徴とする計測用撮像装置の校正値測定方法。
IPC (5件)：
G01B 11/00
, G01B 11/26
, G01D 18/00
, G06T 7/00
, H05K 13/08
G01B 11/00 H
, G01B 11/00 D
, G01B 11/26 H
, G01D 18/00
, H05K 13/08 Q
, G06F 15/62 405 Z
