特許
J-GLOBAL ID:200903077445563763
シール検査機
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
羽鳥 修 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-050497
公開番号(公開出願番号):特開2000-249663
出願日: 1999年02月26日
公開日(公表日): 2000年09月14日
要約:
【要約】【課題】 シール不良を簡単に検査することのできるシール検査機及びシール検査方法を提供する。【解決手段】 収容袋10のシール部11におけるシール不良を検出するためのシール検査機であって、シール部11を挟んだ一方からシール部11に異物に吸収され易く、包装材料に吸収されにくい波長の電磁波を照射する電磁波照射手段12と、シール部11を挟んだ他方からシール部11を透過する電磁波を検出する手段13とを備える。そして、シール部11に上記電磁波を照射し、シール部11を挟んだ他方からシール部11を透過する電磁波を検出して、シール部の透過波の強弱からシール不良の有無を判別する。
請求項(抜粋):
2枚のシートを貼り合せるシール部の一方の面に電磁波を照射する手段と、シール部を透過する電磁波を検出する手段とを備えるシール検査機。
Fターム (12件):
2G051AA11
, 2G051AA13
, 2G051AA41
, 2G051AB06
, 2G051AB13
, 2G051BA06
, 2G051CA03
, 2G051CA04
, 2G051CB02
, 2G051EA11
, 2G051EA16
, 2G051EC01
引用特許: