特許
J-GLOBAL ID:200903077755846030
エッジ領域抽出方法及び装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
高矢 諭 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-268375
公開番号(公開出願番号):特開平10-116344
出願日: 1996年10月09日
公開日(公表日): 1998年05月06日
要約:
【要約】【課題】 入力画像の中から、画像信号の平端部が所定の幅W以下の場合にのみ、そのエッジが含まれない位置にエッジ領域を抽出できるようにする。【解決手段】 エッジ領域抽出装置において、画像を入力する手段10と、パラメータとしてL、Wを設定する手段12と、注目画素を中心にそれぞれ反対方向にL画素離れた位置の画素値を比較し、その差が閾値を超えている場合の該注目画素をエッジ領域として抽出する手段14と、前記Wのエッジ間画素数の平坦部について抽出された一対のエッジ領域の幅をそれぞれ画素単位で膨張させた場合に該両エッジ領域が繋らない膨張画素数N、収縮画素数Pを計算する手段18と、抽出された全てのエッジ領域の幅を両側でN画素ずつ膨張させる手段20と、膨張させたエッジ領域の幅を両側でP画素ずつ収縮させる手段24とを備えた。
請求項(抜粋):
入力画像の水平方向及び垂直方向の少なくとも一方について、画素値が急激に変化するエッジに基づいてエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出方法において、画素値の変化が無いか又は小さい平坦部の幅が所定値以下の場合には、該平坦部の両端に位置するエッジが、エッジ領域に含まれないようにし、それ以外の場合は、エッジがエッジ領域に含まれるようにすることを特徴とするエッジ領域抽出方法。
IPC (2件):
FI (2件):
G06F 15/70 335 Z
, B41F 33/14 G
引用特許:
審査官引用 (1件)
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エッジ領域検出方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-050250
出願人:ソニー株式会社
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