エッジ領域検出方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：稲本義雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-050250
公開番号（公開出願番号）：特開平8-016793
出願日： 1995年03月10日
公開日（公表日）： 1996年01月19日
要約：

【要約】【目的】画素信号DD0をエッジ領域とそれ以外のテクスチャ領域に識別する際、確実かつ効率良く識別する。【構成】画素信号DD0のエッジ領域を抽出する際に、注目画素周辺の所定のマスク領域内の画素が持つ統計的特徴量としての信号DD8と、注目画素が持つ特徴量としてのエッジ強度信号DD5とに応じて、エッジ領域とそれ以外を識別するしきい値DD9を変化させるようにする。一定のしきい値を用いてエッジ領域を識別する従来の方法に較べ、確実かつ効率的にエッジ領域を識別し得る。

請求項（抜粋）：

入力画像信号のエッジ領域を検出するエッジ領域検出方法において、検出対象となる注目画素周辺の所定の領域をマスク領域とし、前記マスク領域内の画素が持つ統計的特徴量と、前記注目画素が持つ特徴量とに応じて、前記エッジ領域と前記エッジ領域以外の部分を検出するしきい値を適応的に変化させるようにしたことを特徴とするエッジ領域検出方法。

IPC (4件)：

G06T 9/20 , H04N 1/41 , H04N 5/92 , H04N 7/30

FI (3件)：

G06F 15/70 335 Z , H04N 5/92 H , H04N 7/133 Z

引用特許：

審査官引用 (11件)

特開平3-022181
特開平4-326671
特開昭61-126437

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