特許
J-GLOBAL ID：200903077782475485
光画像計測装置、光画像計測プログラム、眼底観察装置及び眼底観察プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
三澤 正義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-337628
公開番号（公開出願番号）：特開2007-130403
出願日： 2005年11月22日
公開日（公表日）： 2007年05月31日
要約：
【課題】信号光の走査中に被測定物体が動いた場合でも確度の高い画像を形成できる光画像計測装置を提供する。【解決手段】光画像形成装置1は、低コヒーレンス光L0を信号光LSと参照光LRに分割し、眼底Erで反射された信号光LSと参照ミラー14で反射された参照光LRとを重畳させて干渉光LCを生成する干渉計と、干渉光LCを受光し検出信号を出力するCCD34と、信号光LSを主走査方向、副走査方向に走査するガルバノミラー22、23と、副走査方向の異なる位置における主走査方向に沿った断層画像G1〜Gmを形成するコンピュータ40とを有する。ガルバノミラー22、23は、主走査方向に交差する所定の方向に信号光LSを走査し、コンピュータ40は、この所定の方向に沿った補正用断層画像GRを形成し、補正用断層画像GRに基づいて各断層画像Giの位置ずれを補正する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光源と、
前記光源から出力された光を被測定物体に向かう信号光と参照物体に向かう参照光とに分割するとともに、前記被測定物体を経由した信号光と前記参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記生成された干渉光を受光して検出信号を出力する検出手段と、
前記被測定物体に対する前記信号光の入射位置を所定の主走査方向及び該主走査方向に直交する副走査方向にそれぞれ走査する走査手段と、
前記主走査方向に沿った複数の前記入射位置のそれぞれについて、当該入射位置を経由した信号光と前記参照光とから生成される干渉光に基づく前記検出信号に基づいて当該入射位置における前記被測定物体の深度方向の画像を形成し、該形成された各入射位置の前記画像に基づいて前記主走査方向に沿った断層画像を形成することにより、前記副走査方向の異なる位置における2以上の前記主走査方向に沿った断層画像を形成する画像処理手段と、
を有し、
前記走査手段は、前記主走査方向に交差する所定の方向に前記信号光を走査し、
前記画像処理手段は、当該所定の方向に沿った補正用断層画像を形成するとともに、該補正用断層画像に基づいて、前記形成された前記2以上の断層画像のそれぞれの位置ずれを補正する、
ことを特徴とする光画像計測装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
A61B3/12 E
, G01N21/17 620
2G059AA05
, 2G059BB12
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059FF02
, 2G059GG01
, 2G059GG02
, 2G059GG10
, 2G059HH01
, 2G059JJ02
, 2G059JJ05
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ15
, 2G059JJ17
, 2G059JJ22
, 2G059KK04
, 2G059MM09
, 2G059PP04
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (5件)
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可変奥行き解像力を有する光学マッピング装置
公報種別：公表公報
出願番号：特願2001-543977
出願人：オーティーアイオフサルミックテクノロジーズインク
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光学測定装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平9-073918
出願人：興和株式会社
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眼科装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平6-197853
出願人：株式会社トプコン
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