特許
J-GLOBAL ID：200903077899629629
多接合型光電変換素子の特性制限要素セルの判定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-335133
公開番号（公開出願番号）：特開2006-147806
出願日： 2004年11月18日
公開日（公表日）： 2006年06月08日
要約：
【課題】 複数の要素セルから構成される多接合太陽電池において、目的とするスペクトル条件下で例えば電流などの特性を制限する要素セルを正確に判定する方法を提供すること。【解決手段】 試験セルの各要素セルと同等の分光感度を有する複数の疑似要素セルについて、特定スペクトル状態での短絡電流を測定し校正値とする工程、前記特定スペクトル条件に近い2点のスペクトル状態の試験光源下で、前記複数の疑似要素セルの短絡電流を測定し前記校正値により規格化する工程、前記特定スペクトル条件に近い2点のスペクトル状態の試験光源下で、前記試験セルの該特性を取得する工程、以上から2点のスペクトル状態間での特性の変化率である勾配を計算する工程、前記勾配の値により特性制限要素セルを判定する工程を含むことを特徴とする多接合光電変換素子試験セルの特性制限要素セルの判定方法とする。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
複数の要素セルを積層した多接合型光電変換素子からなる試験セルの特定スペクトル状態での特性制限要素セルの判定方法であって、
該試験セルの各要素セルと同等の分光感度を有する複数の疑似要素セルについて、該特定スペクトル状態での短絡電流を測定し校正値とする工程、
該特定スペクトル条件に近い2点のスペクトル状態の試験光源下で、該複数の疑似要素セルの短絡電流を測定し該校正値により規格化する工程
該特定スペクトル条件に近い2点のスペクトル状態の試験光源下で、該試験セルの該特性を取得する工程、
下記(式1)から勾配Bを計算する工程、
該勾配Bの値により特性制限要素セルを判定する工程を含むことを特徴とする多接合光電変換素子試験セルの特性制限要素セルの判定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (2件)：
引用特許：
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