特許

J-GLOBAL ID：200903078284082146

3次元曲面形状の測定装置及び測定方法

発明者： 上杉 満昭
出願人/特許権者： 鋼管計測株式会社
代理人 (1件)： 石川 泰男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-164646
公開番号（公開出願番号）：特開2005-003409
出願日： 2003年06月10日
公開日（公表日）： 2005年01月06日
要約：

【課題】マルチスリットイメージエンコード法の利点である高精度、ロバスト性、高速性を生かして、かつ対象の絶対形状を測定する方法を提供する。【解決手段】被測定対象物表面に複数本のスリット光からなるスリットパタンと1本以上のストライプ状の光からなるストライプパタンとをそれぞれ投影するパタン投影手段7と、被測定物表面に投影されたスリットパタン及びストライプパタンを投影方向とは異なる方向から撮影する撮像手段8と、撮影されたパタン投影画像を画像処理して前記被測定対象物の3次元曲面形状を演算する形状演算手段50とを備えた3次元曲面形状の測定装置。スリットパタンは、スリット方向と直交する方向にシフトされたパタンとし、又は、複数のストライプパタンは、各パタンのストライプの明暗の組み合わせが投影された位置への投光角度に対応するコードを示す3次元曲面形状の測定装置。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

被測定対象物表面に複数本のスリット光からなるスリットパタンと1本以上のストライプ状の光からなるストライプパタンとをそれぞれ投影するパタン投影手段と、被測定物表面に投影されたスリットパタン及びストライプパタンを投影方向とは異なる方向から撮影する撮像手段と、撮影されたパタン投影画像を画像処理して前記被測定対象物の3次元曲面形状を演算する形状演算手段とを備えたことを特徴とする3次元曲面形状の測定装置。

IPC (2件)：

G01B11/24 ,  G06T1/00

FI (2件)：

G01B11/24 K ,  G06T1/00 315

Fターム (29件)：

2F065AA45 ,  2F065AA53 ,  2F065FF07 ,  2F065HH05 ,  2F065HH06 ,  2F065HH07 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ27 ,  5B057BA17 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB13 ,  5B057CD14 ,  5B057CE08 ,  5B057CG07 ,  5B057CG10 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC09 ,  5B057DC22

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 形状計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-192166   出願人：シーケーディ株式会社, 株式会社ネクスタ
• 特開平3-293507
  
• 特公平6-025655
  
• 特開昭64-054208