特許
J-GLOBAL ID：200903078325700577

色分布解析方法、装置及び色分布解析プログラム

発明者：
深尾 珠州子

深尾 珠州子 について

, 
松岡 寛親

松岡 寛親 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (1件)： 大塚 康徳 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-228619
公開番号（公開出願番号）：特開2003-044848
出願日： 2001年07月27日
公開日（公表日）： 2003年02月14日
要約：
【要約】【課題】 色情報を3次元分布表示することで色情報解析を行うことが可能であるが、これまでは単一の色分布情報しか表示しておらず、ガマットマッピング前後の色分布等の比較には、表示を切り替える必要があり、色分布情報の定性的/直感的な比較/判断が困難かつ、操作が煩雑となる。【解決手段】 疑似3次元表示を用いて複数の色分布情報の比較又は解析を行う色分布解析方法であって、少なくとも、第1の表色系において規則的に配置された標本点の座標と、前記標本点が第2の表色系において取り得る色座標値とを関連付けて構成される前記色分布情報の複数に基づいて、3次元物体表面情報を複数構成する物体表面構成工程と、前記物体表面構成工程により構成された前記複数の3次元物体表面情報を、表示装置上で、同一三次元空間において疑似3次元表示させる表示工程とを有することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
疑似3次元表示を用いて複数の色分布情報の比較又は解析を行う色分布解析方法であって、少なくとも、第1の表色系において規則的に配置された標本点の座標と、前記標本点が第2の表色系において取り得る色座標値とを関連付けて構成される前記色分布情報の複数に基づいて、3次元物体表面情報を複数構成する物体表面構成工程と、前記物体表面構成工程により構成された前記複数の3次元物体表面情報を、表示装置上で、同一三次元空間において疑似3次元表示させる表示工程とを有することを特徴とする色分布解析方法。
IPC (5件)：
G06T 7/00 100 ,  G06T 7/00 300 ,  G06T 1/00 510 ,  H04N 1/46 ,  H04N 1/60
FI (5件)：
G06T 7/00 100 D ,  G06T 7/00 300 F ,  G06T 1/00 510 ,  H04N 1/40 D ,  H04N 1/46 Z
Fターム (29件)：
5B057CA01 ,  5B057CB01 ,  5B057CE18 ,  5B057CH07 ,  5C077LL19 ,  5C077MP08 ,  5C077PP32 ,  5C077PP36 ,  5C077PP37 ,  5C077PQ08 ,  5C077PQ20 ,  5C077PQ22 ,  5C077TT02 ,  5C077TT10 ,  5C079HB01 ,  5C079HB08 ,  5C079HB11 ,  5C079LA31 ,  5C079LB02 ,  5C079MA01 ,  5C079NA03 ,  5C079PA03 ,  5C079PA05 ,  5L096AA02 ,  5L096AA06 ,  5L096DA04 ,  5L096GA40 ,  5L096GA41 ,  5L096MA00
引用特許：
審査官引用 (5件)
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