特許

J-GLOBAL ID：200903078400164511

異物検査装置

発明者： 安田 圭次 ,  渡部 俊寿
出願人/特許権者： アンリツ株式会社
代理人 (1件)： 早川 誠志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-155367
公開番号（公開出願番号）：特開2001-337053
出願日： 2000年05月25日
公開日（公表日）： 2001年12月07日
要約：

【要約】【課題】 被検査体の外部から異物の位置を容易に特定でき、その異物を簡単に取り除くことができようにする。【解決手段】 コンベア21に搬入された被検査体Wは、透過センサ22の透過線出力部23と透過線検出部24の間を通過する。処理部30には、透過センサ22の出力に基づいて異物の有無および位置を検出する異物検出手段が設けられており、異物が有る場合にはその異物の位置情報がマーキング手段40に出力される。マーキング手段40は、透過センサ22を通過した被検査体Wの外装面の異物検出手段によって検出された異物の位置にマーキング処理をする。

請求項（抜粋）：

被検査体を透過する透過線を出力する透過線出力部および被検査体を透過した透過線の強さを検出する透過線検出部からなる透過センサと、被検査体が前記透過センサの透過線出力部と透過線検出部の間を通過するように搬送する搬送手段と、被検査体が前記透過センサの透過線出力部と透過線検出部の間を通過したときの透過線検出部の出力に基づいて、異物の有無および位置を検出する異物検出手段と、前記透過センサの透過線出力部と透過線検出部の間を通過した被検査体の外装面の前記異物検出手段によって検出された異物の位置にマーキング処理をするマーキング手段とを備えた異物検査装置。

IPC (2件)：

G01N 23/04 ,  G01V 3/08

FI (2件)：

G01N 23/04 ,  G01V 3/08 A

Fターム (13件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA08 ,  2G001FA06 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001JA12 ,  2G001JA16 ,  2G001KA03 ,  2G001LA01 ,  2G001PA11 ,  2G005BA03

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 電縫管内の異物検出方法、異物表示装置ならびに電縫管
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-000704   出願人：株式会社日立エンジニアリングサービス
• X線検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-044274   出願人：株式会社日立メディコ
• 特公平4-024208
  
• 特公平4-024208