特許

J-GLOBAL ID：200903078496993335

温度特性測定装置とこれを用いた温度特性測定方法

発明者： 森分 博紀
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 岩橋 文雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-041205
公開番号（公開出願番号）：特開2000-241478
出願日： 1999年02月19日
公開日（公表日）： 2000年09月08日
要約：

【要約】【課題】 正確かつ短時間に温度特性を測定できる温度特性測定装置を提供することを目的とするものである。【解決手段】 トンネル炉1を温度制御手段3を用いて所望の温度プロファイルになるようにし、搬送手段2に被測定物6を配置後運転してトンネル炉1の内部の温度プロファイルを安定させ、温度センサ7を搬送手段2に配置しトンネル炉1の内部を搬送すると共に、温度測定手段4を用いてトンネル炉1内の温度プロファイルを実測し、この結果によりトンネル炉1内での抵抗値測定位置を決定し、被測定物6を配置した搬送手段2を所定の速度にて運転し、トンネル炉1を通過させるときに、抵抗値測定位置での抵抗値を抵抗値測定手段5を用いて測定する。

請求項（抜粋）：

所望の温度分布を有するトンネル炉と、このトンネル炉内において被測定物を搬送する搬送手段と、前記トンネル炉内の温度を制御する温度制御手段と、前記トンネル炉内において前記被測定物の温度特性を測定する測定手段とを備えた温度特性測定装置。

IPC (3件)：

G01R 31/00 ,  G01R 27/02 ,  H01C 7/04

FI (3件)：

G01R 31/00 ,  G01R 27/02 R ,  H01C 7/04

Fターム (19件)：

2G028BB01 ,  2G028BB06 ,  2G028BB20 ,  2G028BD04 ,  2G028CG02 ,  2G028CG08 ,  2G028CG13 ,  2G028JP01 ,  2G028MS00 ,  2G036AA03 ,  2G036AA04 ,  2G036AA06 ,  2G036AA18 ,  2G036AA28 ,  2G036BB02 ,  2G036BB22 ,  2G036CA04 ,  2G036CA12 ,  5E034DE19

引用特許：

審査官引用 (2件)

• ICデバイスの恒温試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-343607   出願人：日立電子エンジニアリング株式会社, 株式会社日立製作所
• 組立式ライン型環境試験装置及びその組立方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-026107   出願人：オリオン機械株式会社