特許
J-GLOBAL ID：200903078673701080
OFDR方式の多点歪計測装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (4件)：
大城 重信
, 山田 益男
, 加藤 雅夫
, 佐藤 文男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-375302
公開番号（公開出願番号）：特開2004-205368
出願日： 2002年12月25日
公開日（公表日）： 2004年07月22日
要約：
【課題】本発明の課題は、上記の問題点を踏まえ、光ファイバーに複数個のFBGを配置し、OFDRを用いた多点歪み計測システムにおいて、データ解析手法の改善を行い、計測のリアルタイム性、応答速度の向上を目指すことを目的とする。【解決手段】光ファイバーのコア内に周期的な屈折率構造を持たせたファイバー・ブラッグ・グレーティング(FBG)を1本の光ファイバーに複数個配置して、光の干渉強度の周期的変化を利用する測定方式(OFDR)において、検出光信号を予め帯域を設定したバンドパスフィルターを介することにより、特定位置のFBGからの信号を瞬時に分離する機能をもたせたことを特徴とする多点歪計測装置。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
光ファイバーのコア内に周期的な屈折率構造を持たせたファイバー・ブラッグ・グレーティング(FBG)を1本の光ファイバーに複数個配置して、光の干渉強度の周期的変化を利用する測定方式(OFDR)において、検出光信号を予め帯域を設定したバンドパスフィルターを介することにより、特定位置のFBGからの信号を瞬時に分離する機能をもたせたことを特徴とする多点歪計測装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (21件)：
2F065AA65
, 2F065BB05
, 2F065CC14
, 2F065DD06
, 2F065FF41
, 2F065FF48
, 2F065GG04
, 2F065GG25
, 2F065JJ15
, 2F065LL02
, 2F065LL22
, 2F065LL42
, 2F065QQ03
, 2F065QQ25
, 2F065QQ28
, 2F103BA41
, 2F103CA04
, 2F103CA07
, 2F103EB02
, 2F103EB05
, 2F103EC09
