特許
J-GLOBAL ID：200903079002705720

マルチモード光ファイバ用光時間領域後方散乱測定装置、その光源部及び光源部の製造方法

発明者：
黒野 桂子

黒野 桂子 について


出願人/特許権者：
安藤電気株式会社

安藤電気株式会社 について


代理人 (1件)： 志賀 正武 (外8名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-186859
公開番号（公開出願番号）：特開2001-013036
出願日： 1999年06月30日
公開日（公表日）： 2001年01月19日
要約：
【要約】【課題】 簡単な構成でマルチモード光ファイバを擬似的に定常励振させることができ、かつ正確な測定を行うことができると共に、測定結果の再現性の向上を図る。【解決手段】 レーザダイオード11の中心軸14とレーザダイオード11から発振した光を集光するためのレンズ12の光軸15とが同一軸上になるように配置されており、かつレンズ12により集光された光ビームが入射されるマルチモード光ファイバ13の中心軸16を上記同一軸に対して直交する方向に所定長だけずらした状態でレンズ12とマルチモード光ファイバ13とが結合され、固定されている。
請求項（抜粋）：
光パルスを出力する光源部と、該光源部より被測定用マルチモード光ファイバに出力された光パルスの後方散乱光及びフレネル反射光を受光する受光部と、該受光部から出力された電気信号を処理する処理部とを有するマルチモード光ファイバ用光時間領域後方散乱測定装置において、前記光源部は、光源と、該光源からの出射光を集光する光学系と、該光学系により集光された光ビームが入射されるマルチモード光ファイバとを有し、前記光源の中心軸と前記光学系の光軸とが同一軸上になるように配置し、かつ前記光学系により集光された光ビームが入射されるマルチモード光ファイバの中心軸を前記同一軸に対して直交する方向に所定長だけずらした状態で前記光学系と前記マルチモード光ファイバとを結合したことを特徴とするマルチモード光ファイバ用光時間領域後方散乱測定装置。
IPC (2件)：
G01M 11/00 ,  G02B 6/42
FI (2件)：
G01M 11/00 R ,  G02B 6/42
Fターム (5件)：
2G086CC02 ,  2H037AA04 ,  2H037BA03 ,  2H037BA12 ,  2H037CA11
引用特許：
審査官引用 (3件)
  • 特開昭57-073633
  • 特開平2-093408
  • マルチモード通信システム
    公報種別：公表公報   出願番号：特願平9-531593   出願人：ヒューレット・パッカード・カンパニー

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