特許
J-GLOBAL ID：200903079141640616
マルチビーム走査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
樺山 亨 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-173658
公開番号（公開出願番号）：特開平9-026550
出願日： 1995年07月10日
公開日（公表日）： 1997年01月28日
要約：
【要約】【課題】簡易な光源部分の調整手段でも被走査面上で所望のスポット径を得ることを可能とするマルチビーム走査装置を提供する。【解決手段】アレー状の複数個の光源を有する半導体レーザーアレー1と、該半導体レーザーアレー1からの複数の光ビームを各々平行光束または略平行光束にするコリメートレンズ5と、これら複数の光ビームを被走査面22に対して走査する走査手段12と、走査される光ビームを被走査面22上に結像させる結像部13,14よりなるマルチビーム走査装置において、上記複数個の光ビームの結像位置(スポット位置)の深度方向のバラツキの中に設計上の結像すべき位置(所望のスポット位置)があることを特徴とする。すなわち、複数のビームの深度方向のスポット位置を所望のスポット位置に対して振り分けることで、被走査面22上でのスポット径のバラツキを最小限に抑える。
請求項（抜粋）：
アレー状の複数個の光源を有する半導体レーザーアレーと、該半導体レーザーアレーからの複数個の光ビームを各々平行光束または略平行光束にするコリメートレンズと、これら複数の光ビームを被走査面に対して走査する走査手段と、走査される光ビームを被走査面上に結像させる結像部よりなるマルチビーム走査装置において、上記複数個の光ビームの結像位置の深度方向のバラツキの中に設計上の結像すべき位置(所望のスポット位置)があることを特徴とするマルチビーム走査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G02B 26/10 B
, G02B 13/00
