特許

J-GLOBAL ID：200903079201887594

コネクタ導通検査具

発明者： 佐藤 隆之
出願人/特許権者： 矢崎総業株式会社
代理人 (1件)： 瀧野 秀雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-185486
公開番号（公開出願番号）：特開2001-013195
出願日： 1999年06月30日
公開日（公表日）： 2001年01月19日
要約：

【要約】【課題】 ピンを経済的に交換可能とし、且つピンの振れを防止して検査精度を高める。【解決手段】 コネクタ内の端子に対する導通検査ピン4と、端子をコネクタ内で係止する可撓係止ランスに対する挿入検査ピン2とをコネクタ嵌合室9内に有するコネクタ導通検査具で、挿入検査ピン2の基部側のブロック3に導通検査ピン4を貫通固定して成るセットピン5と、複数のセットピンに対する複数のガイド孔8を有するピンガイド7と、ピンガイドを固定するコネクタ嵌合室側のガイドブロック10と、導通検査ピン4に対するプローブピン11側のピンブロック12とを備える。ピンガイド7は挿入検査ピン2の基部側のブロック3の長手方向に延長されている。ピンガイドを平板状に形成することも可能である。

請求項（抜粋）：

コネクタ内の端子に対する導通検査ピンと、該端子を該コネクタ内で係止する可撓係止ランスに対する挿入検査ピンとをコネクタ嵌合室内に有するコネクタ導通検査具において、前記挿入検査ピンの基部側のブロックに前記導通検査ピンを貫通固定して成るセットピンと、複数のセットピンに対する複数のガイド孔を有するピンガイドと、該ピンガイドを固定するコネクタ嵌合室側のガイドブロックと、該導通検査ピンに対するプローブピン側のピンブロックとを備えることを特徴とするコネクタ導通検査具。

IPC (2件)：

G01R 31/04 ,  H01R 43/00

FI (2件)：

G01R 31/04 ,  H01R 43/00 Z

Fターム (5件)：

2G014AA13 ,  2G014AB60 ,  2G014AC06 ,  5E051GA09 ,  5E051GB09

引用特許：

審査官引用 (2件)

• コネクタ検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-281716   出願人：住友電装株式会社
• コネクタ検査具
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-010829   出願人：矢崎総業株式会社