特許
J-GLOBAL ID:200903079255839714
形状記憶合金の損傷位置検出方法、自己感知型加熱制御法及び自己修復方法並びに複合材料製パネル及び絶縁皮膜で覆った形状記憶合金
発明者:
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出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-129758
公開番号(公開出願番号):特開2004-333306
出願日: 2003年05月08日
公開日(公表日): 2004年11月25日
要約:
【課題】絶縁皮膜で覆ったSMAを、複合材料内に格子状に埋設したパネルにおいて、パネルの損傷位置を、SMAの抵抗を随時測定し抵抗の時間微分をもとめ損傷位置等の判定を行い、損傷を検知したSMAにパルス電流を流しSMAの加熱を行うと共に抵抗測定を行い、抵抗の時間微分からパルス電流を遮断することで周囲温度等の影響を受けることなく加熱電流や加熱時間の適正化を図る。【解決手段】絶縁皮膜で覆った形状記憶合金(以下、SMA)を複合材料内に格子状に埋設したパネルにおいて、パネルの損傷位置を、SMAの抵抗を随時測定し抵抗の時間微分をもとめ時間微分許容限度より損傷位置等の判定を行うことを特徴とする形状記憶合金の損傷位置検出方法。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
絶縁皮膜で覆った形状記憶合金(以下、SMA)を複合材料内に格子状に埋設したパネルにおいて、パネルの損傷位置を、SMAの抵抗を随時測定し抵抗の時間微分をもとめ時間微分許容限度より損傷位置等の判定を行うことを特徴とする形状記憶合金の損傷位置検出方法。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N27/04 Z
, G01N27/20 B
Fターム (15件):
2G060AA10
, 2G060AD04
, 2G060AE04
, 2G060AF02
, 2G060AF07
, 2G060AG04
, 2G060BD08
, 2G060EA04
, 2G060EB03
, 2G060EB06
, 2G060GA03
, 2G060HA01
, 2G060HB06
, 2G060HC11
, 2G060KA15
引用特許:
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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