試料分析装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：宮園博一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-231591
公開番号（公開出願番号）：特開2008-070115
出願日： 2006年08月29日
公開日（公表日）： 2008年03月27日
要約：

【課題】多数の試薬を配置する場合にも、配置された試薬の詳細情報を容易に表示することが可能な試料分析装置を提供する。【解決手段】この試料分析装置は、複数の試薬が配置される第1試薬テーブルおよび第2試薬テーブルと、表示部4bと、第1試薬テーブルおよび第2試薬テーブルにおける各試薬の配置状態に対応して、少なくとも試薬名が記された第1試薬マーク421および第2試薬マーク422を指定可能に表示する試薬配置表示領域420を含む試薬管理画面410とともに、指定された試薬マークに対応する試薬に関する詳細情報を表示部4bに表示させる制御部とを備える。【選択図】図7

請求項（抜粋）：

試料と試薬とを混合することにより調製された測定試料を分析するための試料分析装置であって、複数の試薬が配置される試薬配置部と、表示部と、前記表示部に表示された表示画面に対して所定の操作を行うための操作部と、前記試薬配置部における各試薬の配置状態に対応して、少なくとも試薬名が記された各試薬マークを前記操作部によって指定可能に表示する試薬配置表示領域を含む試薬管理画面とともに、前記操作部によって指定された試薬マークに対応する試薬に関する詳細情報を前記表示部に表示させる表示制御部とを備える、試料分析装置。

IPC (1件)：

G01N 35/00

FI (2件)：

G01N35/00 C , G01N35/00 A

Fターム (7件)：

2G058CB09 , 2G058CB15 , 2G058CD04 , 2G058CE08 , 2G058CE10 , 2G058GB05 , 2G058GD06

引用特許：

出願人引用 (7件)

自動分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-316036 出願人：株式会社堀場製作所
自動分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-304709 出願人：株式会社日立製作所
自動分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-189015 出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ

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審査官引用 (6件)

自動分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-304709 出願人：株式会社日立製作所
自動分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-189015 出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-091452 出願人：株式会社東芝

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