特許

J-GLOBAL ID：200903080023953691

光ディスク基板の複屈折の測定法及び測定装置

発明者： 堀江 通和
出願人/特許権者： 三菱化学株式会社
代理人 (1件)： 長谷川 曉司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-310708
公開番号（公開出願番号）：特開平7-229828
出願日： 1994年12月14日
公開日（公表日）： 1995年08月29日
要約：

【要約】【目的】 本発明は正確で迅速で簡便に光ディスク基板の面内および垂直複屈折を測定でき、かつインラインでの適用もできる方法及び装置を提供することを目的とする。【構成】 透明樹脂基板上に少なくとも記録層を設けてなる光ディスクの基板に、記録層と反対側の面から平行光ビームを基板に対し斜め方向から入射させ、その透過光または反射光に生じた位相差を測定して基板の複屈折を測定する方法であって、入射光ビームを含む入射面の方向を少なくとも直交する2方向にとって複屈折を測定することを特徴とする光ディスク基板の複屈折の測定法。

請求項（抜粋）：

透明樹脂基板上に少なくとも記録層を設けてなる光ディスクの基板に、記録層と反対側の面から平行光ビームを基板に対し斜め方向から入射させ、その透過光または反射光に生じた位相差を測定して基板の複屈折を測定する方法であって、入射光ビームを含む入射面の方向を少なくとも直交する2方向にとって複屈折を測定することを特徴とする光ディスク基板の複屈折の測定法。

IPC (3件)：

G01N 21/23 ,  G01M 11/00 ,  G11B 7/26

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭63-262530
  
• 特開昭63-241452
  
• 水晶板の方向判別方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-324043   出願人：理学電機株式会社