電子部品検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：三枝弘明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-095888
公開番号（公開出願番号）：特開平7-280863
出願日： 1994年04月08日
公開日（公表日）： 1995年10月27日
要約：

【要約】【目的】 TABテープに対する複数の電気的検査を一時に行うことのできる検査装置を実現する。【構成】 TABテープを駆動するスプロケット15,16の間に、オープンテスト装置20、リード打抜きプレス50、及びショートテスト装置30が順次配設されている。オープンテスト装置20の上方には加圧装置21、ショートテスト装置30の上方には加圧装置31が配置されている。オープンテスト装置20おいて回路パターンの断線が発見されると、この回路パターンをもつフレームに対しては以後のプレス加工及びショートテストが省略されるようになっている。オープンテスト又はショートテストのいずれかで断線又は短絡が発見されると、パンチ機構44は当該フレームに不良表示を施すようになっている。

請求項（抜粋）：

複数の回路パターンを延長方向に形成したテープを該延長方向に走行させ、該テープの走行路上に配置された検査手段により前記回路パターンの検査を順次行う電子部品検査装置において、前記回路パターンに対して第1の検査を行う第1検査手段と、前記回路パターンに対して第2の検査を行う第2検査手段とを、前記走行路上に順次配設したことを特徴とする電子部品検査装置。

引用特許：

審査官引用 (3件)

TABテープ試験装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-078578 出願人：安藤電気株式会社
特開昭54-123055
特開昭64-006776

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