特許

J-GLOBAL ID：200903080096927656

波長分析装置

発明者： 小松崎 晋路
出願人/特許権者： 日立電線株式会社
代理人 (1件)： 絹谷 信雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-072789
公開番号（公開出願番号）：特開2005-257624
出願日： 2004年03月15日
公開日（公表日）： 2005年09月22日
要約：

【課題】 温度に依存せずに高速高精度かつ高信頼性の波長分析装置を提供する。【解決手段】 光ファイバブラッググレーティング(FBG)4に光を入射させ、そのFBG4からの反射光OrをAWG5など波長フィルタに入射し、その波長フィルタからの光でFBG4にかかる歪み等を検出するにおいて、AWG5の温度に依存による波長変化をO/E変換器及び信号処理回路7で検出し、その温度依存による波長変化に基づく検出誤差を抑制するよう、温度制御装置6でAWG5の温度を制御する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

光ファイバブラッググレーティング(FBG)に光を入射させ、そのFBGからの反射光を波長フィルタに入射し、その波長フィルタからの光でFBGにかかる歪み等を検出するための波長分析装置において、波長フィルタの温度に依存による波長変化を検出し、その温度依存による波長変化に基づく検出誤差を抑制するよう、温度制御装置で波長フィルタの温度を制御するようにしたことを特徴とする波長分析装置。

IPC (3件)：

G01B11/16 ,  G01J3/18 ,  G01J9/02

FI (3件)：

G01B11/16 G ,  G01J3/18 ,  G01J9/02

Fターム (26件)：

2F065AA65 ,  2F065DD06 ,  2F065EE01 ,  2F065FF48 ,  2F065GG01 ,  2F065GG23 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ00 ,  2F065JJ09 ,  2F065KK02 ,  2F065LL00 ,  2F065LL02 ,  2F065LL22 ,  2F065LL42 ,  2F065LL67 ,  2F065NN06 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ29 ,  2F065UU07 ,  2G020AA03 ,  2G020BA20 ,  2G020CA12 ,  2G020CC02 ,  2G020CC25

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 波長計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-092510   出願人：富士電機株式会社
• 波長計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-092539   出願人：富士電機株式会社