特許
J-GLOBAL ID:200903065234200143

波長計測装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 森田 雄一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-092539
公開番号(公開出願番号):特開2000-283846
出願日: 1999年03月31日
公開日(公表日): 2000年10月13日
要約:
【要約】【課題】 波長検出部の機械的な可動部分を不要にし、耐振性や測定精度の向上、製造コストの低減、歩留まりの向上を図る。【解決手段】 測定光が入射される光ファイバに一以上のセンサ用ブラッグ回折格子が形成され、前記センサ用ブラッグ回折格子からの反射光の波長を検出して前記センサ用ブラッグ回折格子の位置における物理量を測定する物理量測定システムに関する。センサ用ブラッグ回折格子S-FBGからの反射光を、特定の波長範囲で直線状に反射率が変化するリニア減衰型ブラッグ回折格子L-FBGに入射させ、このリニア減衰型ブラッグ回折格子L-FBGによる反射光をフォトダイオード34に入射させてその光電流の変化に基づいてセンサ用ブラッグ回折格子S-FBGによる反射光の波長を測定する。
請求項(抜粋):
測定光が入射される光ファイバに一以上のセンサ用ブラッグ回折格子が形成され、前記センサ用ブラッグ回折格子からの反射光の波長を検出して前記センサ用ブラッグ回折格子の位置における物理量を測定する物理量測定システムにおいて、前記センサ用ブラッグ回折格子からの反射光を、特定の波長範囲で直線状に反射率が変化するリニア減衰型ブラッグ回折格子に入射させ、このリニア減衰型ブラッグ回折格子による反射光を受光素子に入射させてその光電流の変化に基づいて前記センサ用ブラッグ回折格子による反射光の波長を測定することを特徴とする波長計測装置。
IPC (3件):
G01J 3/18 ,  G01J 1/02 ,  G01J 5/08
FI (3件):
G01J 3/18 ,  G01J 1/02 M ,  G01J 5/08 A
Fターム (15件):
2G020AA03 ,  2G020BA20 ,  2G020CC06 ,  2G020CD12 ,  2G020CD24 ,  2G065AB02 ,  2G065AB22 ,  2G065BA09 ,  2G065BB02 ,  2G065BB15 ,  2G065CA21 ,  2G066BA18 ,  2G066BA38 ,  2G066BA44 ,  2G066BB11
引用特許:
出願人引用 (3件)
  • 光波長監視装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-161996   出願人:国際電信電話株式会社, ケイディディ海底ケーブルシステム株式会社
  • 特開昭57-079414
  • 波長監視装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-244953   出願人:日本電信電話株式会社
審査官引用 (4件)
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