特許
J-GLOBAL ID:200903080441365151
マイクロ波処理装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
岩橋 文雄
, 内藤 浩樹
, 永野 大介
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-106788
公開番号(公開出願番号):特開2008-269793
出願日: 2007年04月16日
公開日(公表日): 2008年11月06日
要約:
【課題】複数の給電部を加熱室壁面に最適配置し夫々の給電部からの放射マイクロ波の周波数および位相差を最適化することで、様々な被加熱物を高効率に加熱する装置を提供する。【解決手段】マイクロ波発生部1は発振部2、電力分配部3、増幅部5a、5b、被加熱物を収納する加熱室8、加熱室8の壁面に配置されマイクロ波発生部1の出力が伝送されそのマイクロ波を加熱室8内に放射供給する給電部7a、7b、マイクロ波伝送路に挿入した位相可変部4a、4bを備え、給電部7a、7bから出力されるマイクロ波の位相差および発振周波数の可変制御とにより、様々な被加熱物に対して反射電力を最小に抑制しこう高率な加熱を実現させることができる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
被加熱物を収納する加熱室と、発振部と、前記発振部の出力を複数に分配して出力する電力分配部と、前記電力分配部の出力の位相を可変する位相可変部と、前記位相可変部の出力をそれぞれ電力増幅する増幅部と、前記増幅部の出力を前記加熱室に供給する複数の給電部と、前記発振部の発振周波数と前記位相可変部の位相量を制御する制御部とを備え、前記複数の給電部は前記加熱室を構成する壁面の異なる複数の壁面に配置するとともに、前記制御部は前記給電部から放射されるマイクロ波の位相差と周波数を制御する構成としたマイクロ波処理装置。
IPC (3件):
H05B 6/74
, H05B 6/72
, H05B 6/68
FI (4件):
H05B6/74 E
, H05B6/74 D
, H05B6/72 D
, H05B6/68 370
Fターム (6件):
3K086AA01
, 3K086BA07
, 3K090AA01
, 3K090AB02
, 3K090BA03
, 3K090CA18
引用特許:
出願人引用 (1件)
審査官引用 (7件)
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高周波加熱装置、半導体製造装置および光源装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-212297
出願人:セイコーエプソン株式会社
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特開昭56-132793
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電子レンジ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-167742
出願人:三菱電機株式会社
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特許第3001658号
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高周波加熱装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-006362
出願人:株式会社日立ホームテック
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電力増幅装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-081242
出願人:日本電気株式会社
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プラズマ発生装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-056237
出願人:東京エレクトロン株式会社
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